中文名稱：
北京沃特瑞爾科技發(fā)展科技公司
廠商地址：
北京海淀區(qū)上地信息大廈B座303
聯(lián)系人：
王芙蓉
電話：
010-62964685/6/8
傳真：
010-62964688
網(wǎng)址：
http://www.wateroil.cn
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公司簡介：
英國馬爾文 Mastersizer 2000 :
技術(shù)參數(shù)
1.0.02-2000微米
2.1000次 / 秒掃描速度
3.標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程（SOP）
4.智能化干濕法進樣平臺轉(zhuǎn)換，多種干濕法進樣平臺滿足不同應(yīng)用
5.高靈敏亞微米區(qū)測量性能
主要特點
1.亞微米區(qū)高靈敏高，重復(fù)性
2.高度智能化軟件指導(dǎo)儀器操作
3.任何粒度分布都可以在30秒之內(nèi)完成全部操作
4.唯一具有SOP功能的激光粒度儀
5.唯一能夠提供FDA QSpec認(rèn)證報告及中文操作和說明軟件
儀器介紹
英國馬爾文Malvern公司提供以下型號：
1. 最新型MS2000激光粒度儀
2. Mastersizer S系列(0.05-900um, 0.05 -3500um)
3. Mastersizer Micro 系列(0.3 - 300um)
4. Zetasizer 系列納米粒度及Zeta電位分析儀(0.6nm-6000nm)
5. CGS-3 納米粒度及絕對分子量分析儀（動態(tài)和靜態(tài)光散射光譜儀）
馬爾文Zetasizer Nano ZS納米粒度Zeta電位和絕對分子量分析儀:
技術(shù)參數(shù)
1.粒度測定范圍：0.6nm - 6000nm
2.濃度范圍：0.1ppm - 40%（W/v)
3.分子量測定范圍：1,000 - 10,000,000道爾頓
4.高分辨Zeta電位分析：可分辨5mV的Zeta電位差別
5.溫度控制范圍：2-90度
主要特點
1.具有最低的納米粒度下限：可測量亞納米區(qū)及高分子大小
2.具有最寬的濃度應(yīng)用范圍：0.1ppm – 40% (w/v)。最少樣品量僅0.75ml。
3.獨有的高分辨Zeta電位技術(shù)：可輕易發(fā)現(xiàn)污染物，并可測定高鹽濃度及極低遷移率的樣品
4.可對分子量進行測定，包括旋轉(zhuǎn)半徑和第二維里系數(shù)
5.唯一具有標(biāo)準(zhǔn)操作規(guī)程（SOP）的納米粒度分析儀器�？呻S時間及溫度變化進行趨勢分析；與自動滴定儀相連接后，可自動測定粒度、Zeta電位隨pH、鹽濃度和電導(dǎo)率變化的，自動測定分子量。
儀器介紹
馬爾文公司2003年5月推出的Zetasizer Nano系列納米粒度和Zeta電位分析儀是在2000年7月問世的Zetasizer HS系列和2001年9月問世的HPPS的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，它不僅繼承了原有儀器的鮮明特點（如測量范圍寬，濃度應(yīng)用范圍廣，高分辨Zeta電位，APD檢測器等），而且還發(fā)展了許多其它功能，包括分子量測定，旋轉(zhuǎn)半徑，第二維里系數(shù)測定，SOP，和隨時間及溫度的趨勢分析等。Zetasizer Nano ZS作為該系列中的頂級配置，與自動滴定系統(tǒng)相連后，還可自動進行粒度、Zeta電位和分子量分析，尚無其它廠家儀器可與之匹敵。
美國康塔公司NOVA系列比表面和孔隙度分析儀:
技術(shù)參數(shù)
1.測量范圍：比表面積>=0.01m2/g；孔徑范圍：3.5埃 - 2000埃
2.最小可分辨相對壓力（P/Po)：2x10-5(N2)
3.無需使用氦氣（專利技術(shù)）
4.同時進行1至4個樣品分析及2至4個樣品脫氣處理
5.氮吸附孔分布至0.6nm;專有CO2/DFT微孔分布達0.3nm
主要特點
1.全自動高速比表面和孔隙度分析儀，用于科研與質(zhì)量控制，是新一代R&D級產(chǎn)品，無需氦氣，運行成本低。
2.可同時進行4個樣品實驗,2個或4個內(nèi)置樣品制備脫氣站，并可外配6站脫氣機
3.通過內(nèi)置打印機端口自動能夠生成報告，可不配計算機進行常規(guī)質(zhì)控工作
4.內(nèi)置軟盤驅(qū)動器和端口可進行數(shù)據(jù)傳輸，適用于Windows PC軟件
5.AnyGas型可用多種氣體進行科學(xué)研究應(yīng)用
儀器介紹
美國Quantachrome（康塔）公司是著名的當(dāng)代顆粒技術(shù)開創(chuàng)者，三十年來，Quantachrome 公司的科學(xué)家革新了測量技術(shù)并設(shè)計了相應(yīng)的儀器，使得粉體及多孔物質(zhì)的測量更加精確精密更加可靠包括：
-比表面測量；
-吸附脫附等溫線；
-孔隙度孔徑分布；
-化學(xué)吸附研究；
-真實粉體密度；
-壓汞法孔隙度測量；
-汞接角；
-水蒸汽分析儀