參考價(jià)格
面議型號(hào)
M-3品牌
晶格電子產(chǎn)地
江蘇蘇州樣本
暫無(wú)測(cè)量范圍：
0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm探測(cè)器：
無(wú)加速電壓：
勻速電子槍?zhuān)?/p>無(wú)
電子光學(xué)放大：
無(wú)光學(xué)放大：
無(wú)通道數(shù)：
無(wú)誤差率：
0.5%波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：
無(wú)靈敏度：
高分辨率：
0.5%重現(xiàn)性：
高儀器原理：
電阻式計(jì)數(shù)分散方式：
無(wú)測(cè)量時(shí)間：
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一、結(jié)構(gòu)特征
M3手持式四探針測(cè)試儀主機(jī) 配ST2253-F01鎢針探頭測(cè)試硅片 配ST2558B-F01薄膜探頭測(cè)試ITO膜
二、概述
2.1基本功能和依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)：
M3手持式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價(jià)比測(cè)量?jī)x器。
該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā返葒?guó)標(biāo)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
2.2配套組成：標(biāo)準(zhǔn)配置由M-3型主機(jī)、選配的四探針探頭等二部分組成，也可加配測(cè)試臺(tái)當(dāng)臺(tái)式機(jī)使用。
2.3優(yōu)勢(shì)特征：
1美觀適用：彩色流線型手持式面板、帶防滑墊，符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)。適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用，也可以定制小型旅行手提箱包裝，便于野外或旅行使用。
2高精度：帶完善厚度、形狀修正功能，測(cè)試準(zhǔn)確。同行中手持式多為簡(jiǎn)易程序，沒(méi)有完整修正功能，無(wú)法修正誤差。
3寬量程：超寬五個(gè)檔位，相當(dāng)于中檔臺(tái)式機(jī)的量程，同行中手持式多為兩到三個(gè)檔位，測(cè)試范圍有限，適應(yīng)性不廣。
4操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定：輕觸數(shù)字化鍵盤(pán)實(shí)現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換，簡(jiǎn)便而且免除模擬定位器的不穩(wěn)定易受干擾。
5手動(dòng)/自動(dòng)一體化：
6顯示方式美觀清晰：由高亮綠色數(shù)碼和ＬＥＤ數(shù)字表頭顯示，不怕環(huán)境背景暗或野外強(qiáng)光；
7待機(jī)和工作時(shí)間長(zhǎng)（不小于兩天），有大容量可充電鋰電池電池供電，環(huán)保耐用。
2.4探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。詳情見(jiàn)《四探針探頭型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》
1配高耐磨的碳化鎢探針探頭，如ST2253-F01型，以測(cè)試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類(lèi)等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；
2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭，如ST2558B-F01型，可測(cè)金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜，也可測(cè)陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。
3配專(zhuān)用箔上涂層探頭，如ST2558B-F02型，也可測(cè)試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。
4換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器的體電阻進(jìn)行測(cè)量。
2.5測(cè)試臺(tái)選配：根據(jù)不同材料特性需要，測(cè)試臺(tái)可有多款選配。詳情見(jiàn)《四探針測(cè)試臺(tái)型號(hào)規(guī)格特征選型參照表》
四探針?lè)y(cè)試固體或薄膜材料選配SZT-A型或SZT-B型（電動(dòng)）或SZT-C型（快速恒壓）測(cè)試臺(tái)。
二探針?lè)y(cè)試細(xì)長(zhǎng)棒類(lèi)材料選配SZT-K型測(cè)試臺(tái).
平行四刀法測(cè)試橡塑材料選配SZT-G型測(cè)試臺(tái)。
2.6適用范圍：手持式使用，儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校四探針?lè)▽?duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類(lèi)半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。
。
三、基本技術(shù)參數(shù)
1.測(cè)量范圍、分辨率
電 阻： 0.010Ω～ 50.00kΩ, 分辨率0.001Ω～ 10 Ω
電 阻 率： 0.010Ω-cm～ 20.00kΩ-cm， 分辨率0.001Ω～ 10 Ω-cm
方塊電阻： 0.050Ω/□ ～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001Ω～ 10 Ω/□
2.可測(cè)材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測(cè)試臺(tái)則由選配測(cè)試臺(tái)決定如下：
直 徑：SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm。
SZT-C方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm。
長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm。.
測(cè)量方位: 軸向、徑向均可.
3.量程劃分及誤差等級(jí)（括號(hào)內(nèi)為拓展量程）
量程（Ω-cm/□） | 2.000 （200.0ｍ） | 20.00 （2.000ｍ） | 200.0 （20.00） | 2.000k （200.0） | 20.00k （2.000k） |
電阻測(cè)試范圍 | 0.010～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～50.00k |
電阻率/方阻 | 0.010/0.050～2.200 | 2.000～22.00 | 20.00～220.0 | 0.200～2.200k | 2.000～20.00k/100.0k |
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±2%FSB±2LSB | |||
4)充電器工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或電池供電DC3.7V.
5)外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重：≤0.3kg
注：該儀器未取得中華人民共和國(guó)醫(yī)療器械注冊(cè)證，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途
聯(lián)系人：王經(jīng)理
聯(lián)系電話：13656 225155
微信：13656 225155
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
在當(dāng)今全球電動(dòng)化趨勢(shì)加速發(fā)展的背景下，鋰電池作為新能源汽車(chē)和儲(chǔ)能系統(tǒng)的核心部件，其需求量急劇增長(zhǎng)。然而，隨著電動(dòng)車(chē)和儲(chǔ)能設(shè)備的廣泛應(yīng)用，面對(duì)龐大的退役電池量，如何高效、環(huán)保地回收鋰電池成為了一項(xiàng)緊迫而
今日，杭州孫氏鋁業(yè)有限公司的客戶攜帶氧化鋁粉末來(lái)到蘇州晶格，進(jìn)行專(zhuān)業(yè)的粉末電阻率測(cè)試。為滿足客戶需求，蘇州晶格的技術(shù)人員采用了多款粉末電阻率測(cè)試儀，全面測(cè)試氧化鋁粉末的導(dǎo)電性能。在此次測(cè)試中，技術(shù)團(tuán)隊(duì)
近日，江蘇某新材料有限公司為驗(yàn)證其新研發(fā)的二氧化鋯包覆材料粉末電阻率性能，特地來(lái)到蘇州晶格科技有限公司進(jìn)行專(zhuān)業(yè)測(cè)試。蘇州晶格作為國(guó)內(nèi)粉末電阻率測(cè)試設(shè)備的領(lǐng)軍企業(yè)，憑借其高精度、高效率的測(cè)試儀器以及卓越
M-3方塊電阻儀ITO膜方阻儀晶格的工作原理介紹？M-3方塊電阻儀ITO膜方阻儀晶格的使用方法？M-3方塊電阻儀ITO膜方阻儀晶格多少錢(qián)一臺(tái)？M-3方塊電阻儀ITO膜方阻儀晶格使用的注意事項(xiàng)M-3方塊電阻儀ITO膜方阻儀晶格的說(shuō)明書(shū)有嗎？M-3方塊電阻儀ITO膜方阻儀晶格的操作規(guī)程有嗎？M-3方塊電阻儀ITO膜方阻儀晶格的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？M-3方塊電阻儀ITO膜方阻儀晶格有現(xiàn)貨嗎？M-3方塊電阻儀ITO膜方阻儀晶格包安裝嗎？
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