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操作簡便的顯微分析工作流程——正置顯微鏡Axio Imager 2可確保為質(zhì)量控制和流程控制提供準確和可重復(fù)的結(jié)果。

正置顯微鏡Axio Imager 2具有出色的光學(xué)性能和均勻的照明。襯度管理器和光強管理器始終確保定義的條件和可重現(xiàn)的結(jié)果。使用ACR自動檢測和配置Axio Imager.Z2m的物鏡和襯度模塊。

四種不同的機座供您選擇，通過專門的解決方案可擴展應(yīng)用：顆粒度分析、關(guān)聯(lián)顯微分析或共聚焦顯微系統(tǒng)LSM 900。

優(yōu)勢

出色的光學(xué)系統(tǒng)，同時滿足高對比度及高分辨率的雙重要求

采用模塊化設(shè)計理念，通過一系列用于增強靈活性的電動和編碼組件，實現(xiàn)更高的靈活性

穩(wěn)定的機座設(shè)計和無振動的工作狀態(tài)，確保結(jié)果的可重復(fù)性。

通過蔡司LSM 900激光掃描共聚焦模塊可對Axio Imager 2進行升級

Axio Imager 2可用于關(guān)聯(lián)顯微分析和顆粒度分析

借助其自動化功能，可在質(zhì)量控制和流程控制中實現(xiàn)結(jié)果精準再現(xiàn)。

特點

提供多種技術(shù)選擇
掌握研究方向并檢查多種材料?？蓪饘俳Y(jié)構(gòu)、復(fù)合材料、玻璃、木材和陶瓷進行分析?？蓹z查聚合物、液態(tài)晶體。
提供多種對比技術(shù)選擇，可從中獲得更多信息。使用反射光明場、暗場、微分干涉（DIC）、圓微分干涉（C-DIC）、偏振光或熒光觀察樣品。使用透射光明場、暗場、微分干涉（DIC）、偏振光或圓偏振光檢查樣品。
襯度管理器可確保Axio Imager 2照明設(shè)置的重復(fù)性。

多元化設(shè)計
Axio Imager.Z2m或Axio Imager.M2m的觸控屏可顯示關(guān)鍵的操作功能，用指尖即可控制所有的電動組件。
額外的控制按鈕人性化地分布在調(diào)焦旋鈕附近，通過觸感表面易于區(qū)分。
Axio Imager.D2m上配有5個預(yù)編程的按鈕，Axio Imager.Z2m上配有10個用戶自定義按鈕。

靈活記錄溫度變化
您是否希望研究溫度對金屬、晶體、陶瓷或塑料性能的影響？
通過AxioVision和Linkam加熱載物臺，您可以定義加熱或冷卻實驗。以時間序列方式記錄溫度變化模式。*終獲得每個時序圖像中溫度和真空數(shù)據(jù)的日志。在加熱或冷卻過程中觀察樣品的變化，例如在質(zhì)量控制領(lǐng)域。