參考價格
1萬元以下型號
EIGER2 X/XE品牌
DECTRIS產地
瑞士樣本
暫無功率(kw):
45重量(kg):
25規(guī)格外形(長*寬*高):
20*40*30看了EIGER2 X/XE-瑞士DECTRIS混合像素光子計數(shù)X射線探測器的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
產品名稱:EIGER2 X/XE-瑞士DECTRIS混合像素光子計數(shù)X射線探測器
品牌:德科特思(DECTRIS)
產地:瑞士
1、產品特點:
DECTRIS EIGER2 X/XE光子計數(shù)X射線探測器將混合像素科技中的**發(fā)展成果轉化成**的探測性能。歸功于其高達2000Hz的幀率,低于100ns死區(qū)時間的無損探測,以及單像素點擴散函數(shù)帶來的理想計數(shù)統(tǒng)計率,使得該探測器能在線站上采集極為準確的數(shù)據(jù)。
新型的EIGE2R X/XE 系列探測器可以為要求極為苛刻的同步輻射應用提供**的探測性能。具有連續(xù)讀數(shù)能力以及千赫茲幀速率的成像能力為時間分辨類實驗和XPCS提供了一種全新的手段,使得像ptychography類的慢速掃描成像技術成為可能。高分辨率和連續(xù)的衍射實驗受益于較小的成像尺寸,通過X射線的直接轉換可以獲得**的點擴散函數(shù)。在理想情況下每單位面積的**計數(shù)速率可以與持續(xù)增加的波束線亮度相匹配。
2、核心優(yōu)勢:
- 混合成像計數(shù):單光子成像計數(shù)模式下的X射線直接轉換能力
- 千赫幀速率占空比> 99%
- 75μm像素尺寸的高空間分辨率
- 優(yōu)秀的點擴散函數(shù)
- 無讀出噪聲和暗電流
- 極其緊湊的外殼
3、應用領域:
-X射線光子相關光譜(XPCS)
- Ptychography(疊層衍射)成像技術
- 時間分辨實驗
- 大分子晶體學(MX)
- 單晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小廣角/X光散射(粉煤灰/蠟)
- X射線成像
技術參數(shù):
型號 | EIGER2 X 500K | EIGER2 X 1M | EIGER2 X 4M | EIGER2 X 9M | EIGER2 X 16M | EIGER2 XE 9M | EIGER2 XE 16M |
有效面積:寬x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 X 79.7 | 155.1 x 162.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||||
總像素數(shù)量 | 1028x512 | 1028x1062 | 2068 x 2162 | 3108 x 3262 | 4148X4362 | 3108 x 3262 | 4148X4362 |
間隙寬度, 水平/垂直(像素) | -/- | -/38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 |
**幀頻* [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 | 550 | 550 |
計數(shù)器深度 [ bit ] | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 |
讀出時間 | 連續(xù)讀數(shù) | ||||||
點擴散函數(shù) | 1 pixel | ||||||
傳感器材料 | Si | ||||||
傳感器厚度 [μm] | 450 | ||||||
能量范圍 [keV] | 6-40 | ||||||
**計數(shù)率 [ph/s/pixel] | 107 | ||||||
尺寸(WHD)[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 |
重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 41 | 55 | 41 | 55 |
冷卻方式 | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) |
北京優(yōu)納珂科技有限公司是瑞士DECTRIS(德科特思)指定的在中國地區(qū)同步輻射和科研實驗室總代理。負責DECTRIS(德科特思)產品在中國軟硬件的售前售后,EIGER2、PILATUS3、MYTHEN2、ELA、QUADRO、SINGLA探測器參數(shù)。公司擁有專業(yè)的銷售、服務團隊,為您提供產品咨詢、設備安裝、設備維護等專業(yè)的一站式服務。公司秉承提供一流的產品、精湛的技術與良好的服務態(tài)度,本著“信譽**、客戶至上”的原則,竭誠為您服務。詳情請致電400 188 9798或登錄網(wǎng)址了解更多信息。
產品名稱:EIGER2 X/XE CdTe-瑞士DECTRIS混合像素光子計數(shù)X射線探測器
品牌:德科特思(DECTRIS)
產地:瑞士
產品詳情:
1、產品特點:
第四代同步加速器的尖端技術:
EIGER2 X/XE CdTe探測器是為在高能量段需要高分辨率和高幀速率的科學家設計的。單個像素尺寸僅為75μm,且對能量到達100keV的光子仍有很高的量子效率。由于死時間為零,所以每幀之間不會丟失光子。兩個可調的能量閾值可以同時區(qū)分熒光背景(低能閾值)并且測量高次諧波的影響(高能閾值)。**計數(shù)速率高達107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探測器性能優(yōu)異且易于集成和操作。
2、核心優(yōu)勢:
– 高量子效率范圍達100KeV
– 無圖像延遲或余輝
– **計數(shù)速率高達107光子/秒/像素
– 雙能量閾值
– 電子門控觸發(fā)
– 有效面積大
3、應用領域:
– x射線衍射(單晶和粉末)
– 現(xiàn)場和原位技術
– 衍射顯微鏡和層析成像
– 漫散射和對分布函數(shù)
技術參數(shù):
型號 | EIGER2 X CdTe 500K | EIGER2 X CdTe 1M | EIGER2 X CdTe 4M | EIGER2 X CdTe 9M | EIGER2 X CdTe 16M | EIGER2 XE CdTe 9M | EIGER2 XE CdTe 16M |
有效面積:寬x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 X 79.7 | 155.1 x 162.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||||
總像素數(shù)量 | 1028x512 | 1028x1062 | 2068 x 2162 | 3108 x 3262 | 4148 x 4362 | 3108 x 3262 | 4148 x 4362 |
間隙寬度, 水平/垂直(像素) | -/- | -/38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 |
**幀頻* [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 | 550 | 550 |
計數(shù)器深度 [ bit ] | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 |
讀出時間 | 連續(xù)讀數(shù) | ||||||
點擴散函數(shù) | 1 pixel | ||||||
傳感器材料 | CdTe | ||||||
傳感器厚度 [μm] | 750 | ||||||
能量范圍 [keV] | 8-100 | ||||||
**計數(shù)率 [ph/s/pixel] | 107 | ||||||
尺寸(WHD)[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 |
重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 41 | 55 | 41 | 55 |
冷卻方式 | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) |
北京優(yōu)納珂科技有限公司是瑞士DECTRIS(德科特思)指定的在中國地區(qū)同步輻射和科研實驗室總代理。負責DECTRIS(德科特思)產品在中國軟硬件的售前售后,EIGER2、PILATUS3、MYTHEN2、ELA、QUADRO、SINGLA探測器參數(shù)。公司擁有專業(yè)的銷售、服務團隊,為您提供產品咨詢、設備安裝、設備維護等專業(yè)的一站式服務。公司秉承提供一流的產品、精湛的技術與良好的服務態(tài)度,本著“信譽**、客戶至上”的原則,竭誠為您服務。詳情請致電400 188 9798或登錄網(wǎng)址了解更多信息。
暫無數(shù)據(jù)!
Dubravka ?i?ak Jung博士的職業(yè)生涯在研究和商業(yè)之間交替進行。目前,她在DECTRIS擔任科學聯(lián)絡專家,與學術研究人員和行業(yè)專家合作,幫助他們實現(xiàn)科學和商業(yè)目標。憑借X射線晶體學的背景
Sem?n Gorfman 博士的實驗室被用于進行獨立研究和作為教學平臺。在采訪他時,我們看到了這些晶體結構模型。乍一看,為實驗室建造一個定制的衍射儀似乎是一次奇特的冒險——專為技術愛好者、特定應用、
DECTRIS ARINA 驕傲問世!DECTRIS向您自豪地介紹最新的開發(fā)成果:DECTRIS ARINA,一種專為 4D STEM 應用設計的新型混合像素電子探測器。該探測器模型在波特蘭