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        鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200
        鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200

        參考價(jià)格

        面議

        型號(hào)

        鎢燈絲掃描電子顯微鏡 SEM3200

        品牌

        金埃譜

        產(chǎn)地

        北京

        樣本

        暫無
        國(guó)儀量子技術(shù)(合肥)股份有限公司

        白金會(huì)員

        |

        第17年

        |

        生產(chǎn)商

        工商已核實(shí)

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        • 探測(cè)器:

          -
        • 加速電壓:

          -
        • 電子槍:

          -
        • 電子光學(xué)放大:

          -
        • 光學(xué)放大:

          -
        • 分辨率:

          -
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        SEM3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高分辨率圖像。
        大景深,成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性,助您在顯微成像的世界中盡情探索。

        產(chǎn)品特點(diǎn)(*為選配件)

         低電壓

        碳材料樣品,低電壓下,穿透深度較小,可以獲取樣品表面真實(shí)形貌,細(xì)節(jié)更豐富。

        低電壓-碳高電壓-碳

        毛發(fā)樣品,在低電壓下,電子束輻照損傷減小,同時(shí)消除了荷電效應(yīng)。

        低電壓-毛發(fā)高電壓-毛發(fā)

         低真空

        過濾纖維管材料,導(dǎo)電性差,在高真空下荷電明顯,在低真空下,無需鍍膜即可實(shí)現(xiàn)對(duì)不導(dǎo)電樣品的直接觀察。

        低真空高真空

         大視場(chǎng)

        生物樣品,采用大視場(chǎng)觀察,能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié),展現(xiàn)跨尺度分析。

        低電壓-毛發(fā)高電壓-毛發(fā)

         導(dǎo)航&防碰撞

        光學(xué)導(dǎo)航

        想看哪里點(diǎn)哪里,導(dǎo)航更輕松
        標(biāo)配倉內(nèi)攝像頭,可拍攝高清樣品臺(tái)照片,快速定位樣品。

        光學(xué)導(dǎo)航

        手勢(shì)快捷導(dǎo)航

        可通過雙擊移動(dòng)、鼠標(biāo)中鍵拖動(dòng)、框選放大,進(jìn)行快捷導(dǎo)航
        如框選放大:在低倍導(dǎo)航下,獲得樣品的大視野情況,可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域,提高工作效率。

        手勢(shì)快捷導(dǎo)航手勢(shì)快捷導(dǎo)航

        防碰撞技術(shù)

        采取多維度的防碰撞方案:
        1. 手動(dòng)輸入樣品高度,精準(zhǔn)控制樣品與物鏡下端距離,防止發(fā)生碰撞;
        2. 基于圖像識(shí)別和動(dòng)態(tài)捕捉技術(shù),運(yùn)動(dòng)過程中對(duì)倉內(nèi)的畫面進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè);
        3. 硬件防碰撞,可在碰撞一瞬間停止電機(jī),減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能)

        防碰撞技術(shù)

         特色功能

        智能輔助消像散

        直觀反映整個(gè)視野的像散程度,通過鼠標(biāo)點(diǎn)擊清晰處,可快速調(diào)節(jié)像散至**。

        智能輔助消像散操作圖智能輔助消像散結(jié)果圖

        自動(dòng)聚焦

        一鍵聚焦,快速成像。

        自動(dòng)聚焦操作圖自動(dòng)聚焦結(jié)果圖

        自動(dòng)消像散

        一鍵消像散,提高工作效率。

        自動(dòng)消像散操作圖自動(dòng)消像散結(jié)果圖

        自動(dòng)亮度對(duì)比度

        一鍵自動(dòng)亮度對(duì)比度,調(diào)出灰度合適圖像。

        自動(dòng)亮度對(duì)比操作圖自動(dòng)亮度對(duì)比結(jié)果圖

        多種信息同時(shí)成像

        SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像??赏瑫r(shí)觀察到樣品的形貌信息和
        成分信息。

        多種信息同時(shí)成像BSE多種信息同時(shí)成像SE

        多種信息同時(shí)成像BSE+SE

        快速圖像旋轉(zhuǎn)

        拖動(dòng)一條線,圖像立刻“擺正角度”。

        快速圖像旋轉(zhuǎn)操作圖快速圖像旋轉(zhuǎn)結(jié)果圖

         豐富拓展性

        掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察,更可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析。
        SEM3200接口豐富,除支持常規(guī)的二次電子探測(cè)器(ETD)、背散射電子探測(cè)器(BSED)、X射線能譜儀(EDS)外,也預(yù)留了諸多接口,如電子背散射衍射(EBSD)、陰極射線(CL)等探測(cè)器都可以在SEM3200上進(jìn)行集成。

        背散射電子探測(cè)器
        二次電子成像和背散射電子成像對(duì)比

        背散射電子成像模式下,荷電效應(yīng)明顯減弱,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。

        鍍層樣品:

        鍍層樣品SE鍍層樣品BSE

        鎢鋼合金樣品:

        鎢鋼合金樣品SE鎢鋼合金樣品BSE

        四分割背散射電子探測(cè)器——多通道成像

        探測(cè)器設(shè)計(jì)精巧,靈敏度高,采用4分割設(shè)計(jì),無需傾斜樣品,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

        四個(gè)單通道的陰影像

        成分像

        能譜

        LED小燈珠能譜面分析結(jié)果。 

        電子背散射衍射

        鎢燈絲電鏡束流大,完全滿足高分辨EBSD的測(cè)試需求,能夠?qū)饘佟⑻沾?、礦物等多晶材料進(jìn)行晶體取向標(biāo)定以及晶粒度大小等分析。
        該圖為Ni金屬標(biāo)樣的EBSD反極圖,能夠識(shí)別晶粒大小和取向,判斷晶界和孿晶,對(duì)材料組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確判斷。


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        2022-09-27

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        產(chǎn)品質(zhì)量

        10分

        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性價(jià)比

        10分
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