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X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，獨有多毛細孔X 射線光學系統(tǒng)設(shè)計，可自動測量和分析微小部件及結(jié)構(gòu)上鍍層厚度和成分。
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于無損分析和測量極微小部件上鍍層的厚度，即使是復雜的鍍層結(jié)構(gòu)，也同樣應付自如。
為了使每次測量都能在*理想的條件下進行，XDV-μ 配備了各種可電動切換的基本濾片。先進的硅漂移接收器能夠達到很高的分析精度及探測靈敏度。由于采用了開創(chuàng)性的多毛細管 X 射線光學系統(tǒng)設(shè)計，本款儀器能在極其微小的測量面積上產(chǎn)生非常高的激發(fā)強度。
出色的準確性及長期的穩(wěn)定性是 FISCHER X 射線儀器的共有特點，因此也大大減少了重新校準儀器的需要，為您節(jié)省時間和精力。
由于采用了 FISCHER 的完全基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。
儀器可以選配一個大面積的工作臺，用以配合對大型印制電路板進行測量。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ 是一款界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺和馬達驅(qū)動的 Z 軸升降臺。側(cè)面開槽的設(shè)計，可測量面積更大的工件，如印制電路板等。當外保護面罩開啟時，樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。
通過激光點，可以快速對準需要測量的位置。儀器內(nèi)置高分辨率彩色攝像頭，簡化了對測量點進行精確對位的過程。
所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的 WinFTM®軟件在電腦上完成。
*多可同時測定從鋁（13）到鈾（92）中的24 種元素
測量門向上開啟的臺式儀器，側(cè)面開槽設(shè)計。
馬達驅(qū)動、可編程運行的 X/Y 軸工作和 Z 軸升降臺
馬達驅(qū)動、可切換的準直器和基本濾片。
配備三擋高壓和4個可切換的基本濾片。
可按要求，提供額外的XDV型產(chǎn)品更改和XDV儀器技術(shù)咨詢。
暫無數(shù)據(jù)！
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