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SRG-4000 易拉蓋刻線殘余量測(cè)定儀

刻痕是易拉蓋的重要部份， 刻線殘留量太厚， 開(kāi)罐時(shí)拉環(huán)容易斷，殘留量太小， 密封不安全， 出現(xiàn)意外被裂甚至泄漏。至今為止，采用景深顯微鏡的系統(tǒng)取決于操作人員的技術(shù)程度， 它們用一個(gè)

外加的顯示屏和測(cè)微計(jì)對(duì)刻線槽進(jìn)行聚焦。由于不同的操作人員會(huì)對(duì)刻線不同地方聚焦，從而使得測(cè)量結(jié)果可重復(fù)性差， 通常會(huì)有明顯的誤差。

QBYV的易拉蓋刻線檢測(cè)儀， 采用創(chuàng)新的方法， 結(jié)合切邊光學(xué)、激光技術(shù)及先進(jìn)的軟件處理， 減少測(cè)量過(guò)程中人為的影晌。該系統(tǒng)有效地改進(jìn)了檢測(cè)結(jié)果的可重復(fù)性， 系統(tǒng)直接與電腦聯(lián)接，不需要任何外圍設(shè)備如解碼器、外設(shè)顯示屏， 因而大大減少了成本和維修費(fèi)用。

優(yōu)勢(shì)

● 采用激光聚焦技術(shù)

● 適用全部易拉蓋型

● 可測(cè)量易拉蓋的鉚釘直徑和厚度

應(yīng)用

● 飲料易拉蓋刻痕殘余尺寸測(cè)量

● 食品易拉蓋刻痕殘余尺寸測(cè)量

技術(shù)參數(shù)