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        蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma-華普通用
        蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma-華普通用

        參考價(jià)格

        面議

        型號(hào)

        品牌

        產(chǎn)地

        德國(guó)

        樣本

        暫無(wú)
        深圳華普通用科技有限公司

        會(huì)員

        |

        第2年

        |

        生產(chǎn)商

        工商已核實(shí)

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        產(chǎn)品描述

        靈活的探測(cè),4步工作流程,高級(jí)的分析性能

        將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。

        用于清晰成像的靈活探測(cè)

        • 利用先進(jìn)探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。

        • 利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。

        • 利用新一代的二次探測(cè)器,獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測(cè)器,在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。

        自動(dòng)化加速工作流程

        • 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶(hù)環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先,先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。

        • 首先,先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。

        • 接下來(lái)對(duì)樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。使用工作流程的一步,將結(jié)果可視化。

        高級(jí)分析型顯微鏡

        • 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合:Sigma 的背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能,特別是對(duì)電子束敏感的樣品。

        • 在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。

        • 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無(wú)陰影的分析結(jié)果。

        基于成熟的 Gemini 技術(shù)

        • Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)光學(xué)性能的影響,并將場(chǎng)對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得出色的效果。

        • Gemini in-lens 的探測(cè)確保了信號(hào)探測(cè)的效率,通過(guò)二次檢測(cè)(SE)和背散射(BSE)元件同時(shí)減少成像時(shí)間。

        • Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測(cè)器尺寸和高的信噪比。

        用于清晰成像的靈活探測(cè)

        • 利用新的探測(cè)技術(shù)表征所有的樣品。

        • 在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE 和 in-lens 探測(cè)器獲取形貌和高分辨率的信息。

        • 在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測(cè)器獲取銳利的圖像。

        • 利用 aSTEM 探測(cè)器生成高分率透射圖像。

        • 利用 BSD 或者 YAG 探測(cè)器進(jìn)行成份分析。

        配件

        SmartEDX

        為您帶來(lái)一體化能譜分析解決方案

        如果單采用SEM成像技術(shù)無(wú)法全面了解部件或樣品,研究人員就需要在SEM中采用能譜儀(EDS)來(lái)進(jìn)行顯微分析。通過(guò)針對(duì)低電壓應(yīng)用而優(yōu)化的能譜解決方案,您可以獲得元素化學(xué)成分的空間分布信息。得益于:

        • 優(yōu)化了常規(guī)的顯微分析應(yīng)用,并且由于氮化硅窗口優(yōu)的透過(guò)率,可以探測(cè)輕元素的低能X射線(xiàn)。

        • 工作流程引導(dǎo)的圖形用戶(hù)界面極大地改善了易用性,以及多用戶(hù)環(huán)境中的重復(fù)性。

        • 完整的服務(wù)和系統(tǒng)支持,由蔡司工程師為您的安裝、預(yù)防性維護(hù)及保修提供一站式服務(wù)。

        拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)

        完全集成化的拉曼成像

        在您的數(shù)據(jù)中加入拉曼光譜及成像結(jié)果,獲得材料更豐富的表征信息。通過(guò)擴(kuò)展蔡司Sigma 300,使其具備共聚焦拉曼成像功能,您能夠獲得樣品的化學(xué)指紋信息,從而指認(rèn)其成分。

        • 識(shí)別分子和晶體結(jié)構(gòu)信息

        • 可進(jìn)行3D分析,在需要時(shí)可關(guān)聯(lián)SEM圖像、拉曼面掃描成像和EDS數(shù)據(jù)。

        • 完全集成RISE讓您體驗(yàn)由先進(jìn)的SEM和拉曼系統(tǒng)帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)。

        創(chuàng)新點(diǎn)

        暫無(wú)數(shù)據(jù)!

        相關(guān)方案
        暫無(wú)相關(guān)方案。
        相關(guān)資料
        暫無(wú)數(shù)據(jù)。
        用戶(hù)評(píng)論

        產(chǎn)品質(zhì)量

        10分

        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性?xún)r(jià)比

        10分
        評(píng)論內(nèi)容
        暫無(wú)評(píng)論!
        公司動(dòng)態(tài)
        暫無(wú)數(shù)據(jù)!
        技術(shù)文章
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        • 蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma-華普通用使用的注意事項(xiàng)
        • 蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma-華普通用的說(shuō)明書(shū)有嗎?
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        蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma-華普通用信息由深圳華普通用科技有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡Sigma-華普通用報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息,歡迎來(lái)電或留言咨詢(xún)。
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