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博曼O系列產(chǎn)品概述：
O系列采用毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu)，測(cè)試性能良好，同時(shí)能實(shí)現(xiàn)小的X射線光斑尺寸。該系列用毛細(xì)管結(jié)構(gòu)取代了安裝在博曼標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型中的準(zhǔn)直器組件。由于多導(dǎo)毛細(xì)管可以傳遞數(shù)百倍的能量信號(hào)，可以有效提高到達(dá)樣品表面的入射X射線強(qiáng)度。O系列配備高分辨率的SDD探測(cè)器，在短時(shí)間內(nèi)捕捉并處理大量數(shù)據(jù)，在短時(shí)間內(nèi)滿足小斑點(diǎn)的測(cè)量的同時(shí)獲取準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果（準(zhǔn)確性和重復(fù)性）。
該系列采用80μm毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu)，同時(shí)配備可處理更高計(jì)數(shù)速率的高分辨率SDD硅漂移探測(cè)器。O系列的相機(jī)具有更大的放大倍數(shù)，擁有45x視頻放大和5x數(shù)碼變焦。一個(gè)可編程的XY樣品臺(tái)也是標(biāo)準(zhǔn)配置。O系列的焦距非常接近，所以使用時(shí)樣品必須平整。
博曼O系列可滿足以下類型用戶的需求：
- 小樣品，如半導(dǎo)體，連接器或PCB
- 需要測(cè)試多個(gè)樣品的多個(gè)位置
- 需要測(cè)量非常薄的涂層（<100nm）
- 需要在短時(shí)間內(nèi)完成測(cè)量（1-5秒）
- 符合IPC-4552A
博曼O系列產(chǎn)品參數(shù)：
類別 | 參數(shù) |
元素測(cè)量范圍： X射線管： 探測(cè)器： 分析層數(shù)及元素?cái)?shù)： 濾波器/準(zhǔn)直器： 焦距： 數(shù)字脈沖器： 計(jì)算機(jī)： 相機(jī)： 電源： 重量： 可編程XY平臺(tái)： 樣品倉(cāng)尺寸： 外形尺寸： | 13號(hào)鋁元素到92號(hào)鈾元素 50 W鉬鈀射線管 80um毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu) 135eV及以上分辨率的硅漂移探測(cè)器 5層（4層+基材） 每層可分析10種元素，成分分析至多可分析25種元素 2位置一次過(guò)濾器 固定焦距（0.1"） 4096 多通道數(shù)字處理器，自動(dòng)死時(shí)間和逃逸峰校正 英特爾， 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz)， 8GB DDR3 內(nèi)存， 微軟 Windows 10 專業(yè)版， 64位 1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率，250X雙攝像頭或45X單攝像頭 150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz 53kg 平臺(tái)尺寸：15"x 13"| 行程：6"x 5" 高度：140mm（5.5"），寬度：310mm（12"），深度：340mm（13"） 高度：450mm（18"），寬度：450mm（18"），深度：600mm（24"） |
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