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        單波長色散X射線熒光光譜儀DUBHE-1610超低硫含量分析
        單波長色散X射線熒光光譜儀DUBHE-1610超低硫含量分析

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        北京安科慧生科技有限公司.

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        單波長色散X射線熒光光譜儀

        Monochromatic Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence SpectrometerMWD XRF

        特點:

        • 靈敏:高選擇性檢測硫元素,檢測限達到0.4PPM,是針對硫元素*靈敏的X射線熒光光譜儀

        • 穩(wěn)定:XFS(X-Ray Fixed System)**技術,光路工廠精密調(diào)諧后,不再產(chǎn)生位移或偏差,**限度的保證了儀器的長期穩(wěn)定性

        • 快速:單個樣品準備時間小于10秒鐘;單個樣品分析時間*長300秒;開機10分鐘內(nèi)即可測試樣品

        • 經(jīng)濟:單個樣品消耗小于4元/樣品,無氣體、溶劑等消耗

        • 方便:使用ESP:Easy Sample Prepare裝置,使得樣品杯與膜成型變得簡單;長時間使用無硬件更換;無需經(jīng)常校正標準曲線

        原理:X射線光管出射譜是由連續(xù)譜線和特征譜線組成,初級全聚焦雙曲面彎晶僅衍射X射線光管出射譜中的高強度的特征X射線,從而入射到樣品的X射線具有極好的單色性,因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線(線光譜)和單色入射線的瑞利散射和康普頓散射以外,不存在連續(xù)線散射背景。單色入射Cr:Kα線激發(fā)樣品中的硫Kα線,硫Kα線進一步被大面積全聚焦雙曲面彎晶收集,聚焦到探測器中檢出,從而實現(xiàn)對樣品中硫元素高選擇性和高靈敏度檢測。

        *低檢出限LLD0.4ppm

        測量范圍:0.4ppm--5%

        測量時間:60--300

        重復性:Sn-10.2ppm2ppm),0.5ppm10ppm),2.5ppm50ppm

        北京安科慧生科技有限公司出品

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