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        博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀B系列
        博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀B系列

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        型號

        品牌

        產地

        美國

        樣本

        暫無
        安柏來科學儀器(上海)有限公司

        會員

        |

        第2年

        |

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        博曼B系列產品概述:

        B系列是博曼的基礎機型和常規(guī)機型。該型號采用自上而下的測量方式,配備固定樣品臺可實現(xiàn)手動操作。測量時將樣品放入樣品倉,通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。樣品倉采用開槽配置,但沒有可編程的XY樣品臺。

        B系列標準配置包括一個固定準直器,一個固定焦距的相機,固態(tài)PIN探測器和質量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣,該型號也可升級為包括多個準直器,可變焦點相機和SDD探測器。

        博曼B系列可滿足以下類型用戶的需求:

        - 樣品測試量相對較小

        - 樣品僅需測量一個位置

        - 大型線路板鍍層的抽檢

        - 預算有限但希望日后儀器性能能有所提升

        - 符合IPC-4552A

        博曼B系列產品參數:

        類別

        參數

        元素測量范圍:

        X射線管:

        探測器:

        分析層數及元素數:

        濾波器/準直器:

        焦距:

        數字脈沖器:

        計算機:

        相機:

        電源:

        重量:

        馬達控制/可編程XY平臺:

        延伸可編程XY平臺:

        樣品倉尺寸:

        外形尺寸:

        13號鋁元素到92號鈾元素

        50 W(50kV和1mA)微聚焦鎢鈀射線管

        190eV及以上分辨率的Si-PIN固態(tài)探測器

        5層,每層可分析10種元素,成分分析*多可分析25種元素

        4位置一次過濾器/單規(guī)格準直器

        激光固定焦距(可選多焦點)

        4096 多通道數字處理器,自動死時間和逃逸峰校正

        英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業(yè)版, 64位

        1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

        150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz

        34kg

        不可用

        不可用

        高度:140mm(5.5"),寬度:310mm(12"),深度:335mm(13")

        高度:450mm(18"),寬度:450mm(18"),深度:600mm(24")

        關于美國博曼:

        美國博曼(Bowman)是高精度臺式鍍層測厚儀供應商,擁有近40年的行業(yè)經驗。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有自主知識產權的鍍層檢測技術和先進的軟件系統(tǒng),可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時測量包含基材在內的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時,博曼XRF系統(tǒng)也可以測量高熵合金(HEAs)。

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        10分

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        10分

        性價比

        10分
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        博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀B系列信息由安柏來科學儀器(上海)有限公司為您提供,如您想了解更多關于博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀B系列報價、型號、參數等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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