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AR-Meta 超表面光場(chǎng)檢測(cè)系統(tǒng) 采用 消除像差 的光學(xué)設(shè)計(jì),以商用設(shè)備實(shí)現(xiàn) μm 量級(jí)超表面器件的原位、寬譜段的透 / 反射光場(chǎng)測(cè)量,并提供焦距、成像分辨率、點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)、調(diào)制傳遞函數(shù)、斯特列爾比、數(shù)值孔徑、偏折效率等關(guān)鍵測(cè)量指標(biāo)分析。結(jié)合豐富的偏振器件,為您帶來一款“專業(yè)化”的超表面與超透鏡光場(chǎng)檢測(cè)平臺(tái)。
超表面器件 超表面器件在空間上具有復(fù)雜的光場(chǎng)調(diào)控能力,需要在微米尺度下掃描光場(chǎng)。
注:以上參數(shù)如有差異,以官網(wǎng)為準(zhǔn)。
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售后服務(wù)
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