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PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)品牌
安徽澤攸產(chǎn)地
安徽樣本
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透射電子顯微鏡TEM-STM量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量。在進(jìn)行原位操縱的同時利用投射電鏡及相關(guān)附件實時動態(tài)地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進(jìn)行綜合表征,很大地擴(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能和應(yīng)用領(lǐng)域。
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近日,浙江大學(xué)張澤院士、王江偉研究員團(tuán)隊作為第一單位在《Nat. Commun.》上發(fā)表了題為《In situ atomistic observation of disconnection-media
近日,蘇州科技大學(xué)作為第一單位,在《Inorg. Chem.》上發(fā)表了題為《Exploration of CeO2?CuO Quantum Dots in Situ Grown on Gra
近日,澳大利亞昆士蘭理工大學(xué)作為第一單位,在《NanoLetters》上發(fā)表了題為《Mechanical, Electrical, and Crystallographic Property Dyna