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        全自動(dòng)比表面積及孔徑分析儀
        全自動(dòng)比表面積及孔徑分析儀

        參考價(jià)格

        面議

        型號(hào)

        V-Sorb 4800P

        品牌

        國(guó)儀精測(cè)

        產(chǎn)地

        北京

        樣本

        暫無(wú)
        國(guó)儀量子技術(shù)(合肥)股份有限公司

        白金會(huì)員

        |

        第17年

        |

        生產(chǎn)商

        工商已核實(shí)

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        核心參數(shù)
        • 誤差率:

          /
        • 分辨率:

          /
        • 重現(xiàn)性:

          /
        • 儀器原理:

          靜態(tài)容量法
        • 分散方式:

          /
        • 測(cè)量時(shí)間:

          /
        • 測(cè)量范圍:

          /
        產(chǎn)品介紹
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        全自動(dòng)比表面積及孔徑分析儀

        V-Sorb 4800P

        • 比表面積測(cè)試,范圍 0.0005(m2/g)--至無(wú)上限

        • 孔徑分析:0.35 nm-2 nm( 微孔),微孔總孔體積測(cè)定;2 nm-500 nm( 中孔或大孔)

        • 4分析站,交替測(cè)試4個(gè)樣品

        • 配置雙級(jí)真空泵

        產(chǎn)品概述

        4800.jpg

        技術(shù)參數(shù)

        測(cè)試原理:靜態(tài)容量法;

        測(cè)試功能:吸附及脫附等溫線測(cè)定,BJH(Barett-Joyner-Halenda)總孔體積及孔徑分析,樣品真密度測(cè)定,DR(Dubinin-Radushkevich)及DA(Dubinin-Astakhov)填充理論,CO2冰水法微孔分析,BET(Brunauer-Emmett-Teller)法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn)),Langmuir法比表面積測(cè)定,平均粒徑估算,t-plot圖法外比表面積測(cè)定,HK法微孔分析,SF法微孔分析,MP法微孔分析,T圖法微孔分析;

        測(cè)試范圍:比表面積 0.0005(m2/g)及以上;0.35 nm-2 nm,微孔總孔體積測(cè)定;2 nm-500 nm( 中孔或大孔), 0.0001 cc/g--至無(wú)上限(總孔體積)

        測(cè)試精度:比表面積重復(fù)精度≤±1.0%;*可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.02 nm,真密度≦±0.04%;外表面積≦±1.5%;

        測(cè)試模式:“單一氮?dú)狻焙汀暗獨(dú)?氦氣”兩種測(cè)試模式**結(jié)合,靈活切換,滿足不同特性樣品測(cè)試需求;

        樣品數(shù)量:交替測(cè)試4個(gè)樣品以及同時(shí)進(jìn)行4個(gè)樣品脫氣處理(選配樣品處理機(jī)),樣品測(cè)試系統(tǒng)和樣品處理系統(tǒng)相互獨(dú)立,并且樣品測(cè)試和樣品脫氣處理可以同時(shí)進(jìn)行,避免了測(cè)試管路受到污染,從而進(jìn)一步確保測(cè)試的精度和提高儀器使用壽命;

        樣品處理:樣品處理的全過(guò)程通過(guò)軟件來(lái)自動(dòng)控制;常溫~400 ℃;脫氣口真空度可達(dá)0.5 Pa;

        P0測(cè)試:支持P0測(cè)試;

        分壓范圍:P/P0準(zhǔn)確可控范圍達(dá)5x10-6-0.998;

        壓力傳感器:量程 0-3 Bar 2 支,量程 0-1 Torr 2 支,進(jìn)口硅薄膜電容式壓力傳感器,精度達(dá)實(shí)際讀數(shù)的0.15%,優(yōu)于全量程的0.15%;

        管路結(jié)構(gòu):集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測(cè)吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高孔徑分析的分辨率;同時(shí)集裝式管路減少了連接點(diǎn),大大提高密封性和儀器使用壽命;

        真空泵:進(jìn)口雙級(jí)真空泵可以實(shí)現(xiàn)外置和內(nèi)置儀器中二種放置方法,內(nèi)置儀器中可以通過(guò)軟件根據(jù)實(shí)驗(yàn)需要自動(dòng)控制真空泵啟停,從而延長(zhǎng)真空泵的壽命;

        液氮杯:進(jìn)口 4 升大容量不銹鋼內(nèi)膽杜瓦瓶,可連續(xù)進(jìn)行72小時(shí)測(cè)試;

        樣品管材質(zhì):石英,與P0測(cè)試站實(shí)時(shí)測(cè)定采用同質(zhì)材料,減少因材質(zhì)不同而造成的分壓誤差;

        液位控制:V-Sorb**的液氮面控制系統(tǒng),確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差;

        控制系統(tǒng):采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命;

        數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗干擾能力強(qiáng);


        全自動(dòng)靜態(tài)容量法活性氧化鋁孔徑分布分析比表面積測(cè)試儀性能參數(shù)

         
        測(cè)試方法及功能:氮吸附真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線測(cè)定,BJH總孔體積及孔徑孔隙度測(cè)試,樣品真密度測(cè)定,t-plot圖法微孔分析,MP法微孔分析,HK法微孔分析,BET法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn)),Langmuir法比表面積測(cè)定,平均粒徑估算,t-plot圖法外比表面積測(cè)定;
         
        測(cè)定范圍:0.01(㎡/g)--至無(wú)上限(比表面積),0.35nm-500nm(孔徑);
         
        測(cè)量精度:重復(fù)性誤差小于1.5%;
         
        真空系統(tǒng):V-Sorb**的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測(cè)吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高孔徑孔隙度測(cè)試的分辨率;同時(shí)集裝式管路減少了連接點(diǎn),大大提高密封性和儀器使用壽命;
         
        液位控制:V-Sorb**的液氮面控制系統(tǒng),確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差;
         
        控制系統(tǒng):采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命;
         
        樣品數(shù)量:同時(shí)進(jìn)行2個(gè)樣品分析和2個(gè)樣品脫氣處理;
         
        壓力測(cè)量:采用壓力分段測(cè)量的進(jìn)口雙壓力傳感器,顯著提高低 P/Po點(diǎn)下測(cè)試精度,0-1000Torr(0-133Kpa),0-10Torr(0-1.33Kpa); 
         
        壓力精度:進(jìn)口硅薄膜壓力傳感器,精度達(dá)實(shí)際讀數(shù)的0.15%,優(yōu)于全量程的0.15%,遠(yuǎn)高于皮拉尼電阻真空計(jì)精度(一般誤差為10%-15%);
         
        分壓范圍:P/Po 準(zhǔn)確可控范圍達(dá)5x10-6-0.995;
         
        極限真空:4x10-2Pa(3x10-4Torr);
         
        樣品類(lèi)型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等;
         
        測(cè)試氣體:高純N2氣(99.999%)或其它(按需選擇如Ar,Kr);
         
        數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗干擾能力強(qiáng);
         
        數(shù)據(jù)處理:Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡(jiǎn)單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報(bào)表.


        創(chuàng)新點(diǎn)

        F-Sorb X400系列4站比表面積測(cè)試及介孔徑分布孔容孔隙率測(cè)量?jī)x是目前國(guó)內(nèi)同類(lèi)產(chǎn)品中唯一完全自動(dòng)化,智能化的產(chǎn)品,連續(xù)3年國(guó)內(nèi)市場(chǎng)銷(xiāo)量第一,眾多著名科研院所及500強(qiáng)企業(yè)應(yīng)用案例. V-Sorb 2800 Series系列全自動(dòng)智能比表面積測(cè)定微孔結(jié)構(gòu)分布總孔體積孔隙度分析儀是金埃譜科技自主研發(fā)的比表面積及孔徑檢測(cè)儀器,采用靜態(tài)容量法測(cè)量原理.相比國(guó)內(nèi)同類(lèi)產(chǎn)品,多項(xiàng)獨(dú)創(chuàng)技術(shù)的采用使產(chǎn)品整體性能更加完善,測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性進(jìn)一步提高,測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定性更強(qiáng),達(dá)到國(guó)際同類(lèi)產(chǎn)品先進(jìn)水平,部分功能超越國(guó)外產(chǎn)品.
        金埃譜科技是國(guó)內(nèi)最早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測(cè)試結(jié)果與國(guó)外數(shù)據(jù)可比性平行性最好,并獲取權(quán)威認(rèn)證機(jī)構(gòu)的檢測(cè)證書(shū),同時(shí)金埃譜科技也是國(guó)內(nèi)同行業(yè)中注冊(cè)資本規(guī)模最大,唯一通過(guò)ISO9001質(zhì)量認(rèn)證的生產(chǎn)企業(yè),雄厚實(shí)力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系,讓您選購(gòu)的產(chǎn)品無(wú)后顧之憂!
        北京金埃譜科技是北京市高新技術(shù)企業(yè),位于我國(guó)著名的高校云集,中科院研究院所匯聚的北京高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)區(qū)-中關(guān)村.公司起源和服務(wù)于中國(guó)兵器系統(tǒng)行業(yè),依托當(dāng)?shù)厝瞬刨Y源和兵器系統(tǒng)技術(shù)優(yōu)勢(shì),致力于科學(xué)分析儀器的研發(fā),生產(chǎn)及銷(xiāo)售.以創(chuàng)立兵器和民用行業(yè)國(guó)有知名品牌為發(fā)展宗旨,通過(guò)與兵器系統(tǒng)密切合作,同時(shí)借鑒國(guó)外先進(jìn)技術(shù),研發(fā)具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的自動(dòng)化及智能化檢測(cè)儀器,為我國(guó)科研單位及生產(chǎn)企業(yè)提供與國(guó)際產(chǎn)品接軌,高可靠性,高性?xún)r(jià)比的一流科研設(shè)備.目前主要產(chǎn)品有V-Sorb 2800 Series系列全自動(dòng)智能BET法比表面積測(cè)定微孔結(jié)構(gòu)分布總孔體積孔隙度分析儀,F-Sorb X400系列4站BET比表面積測(cè)試及BJH介孔徑分布孔容孔隙率測(cè)量?jī)x.
        秉承兵器行業(yè)高標(biāo)準(zhǔn),嚴(yán)要求的技術(shù)宗旨,并適應(yīng)新形勢(shì)下市場(chǎng)發(fā)展需求,倡導(dǎo)和堅(jiān)持"技術(shù)為先,服務(wù)為本"的發(fā)展理念,我們?yōu)榭蛻舨粌H僅提供高質(zhì)量的產(chǎn)品,同時(shí)更注重高效的服務(wù).公司擁有深諳業(yè)內(nèi)需求,了解國(guó)際先進(jìn)技術(shù)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)及跨行業(yè)技術(shù)咨詢(xún)專(zhuān)家,為研發(fā)具有國(guó)際先進(jìn)水平產(chǎn)品提供強(qiáng)大的技術(shù)支持.目前已建立起嚴(yán)格的產(chǎn)品質(zhì)量保證和完善的售后服務(wù)體系,確保產(chǎn)品符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),服務(wù)更具本地特色,使V-Sorb 2800 Series系列全自動(dòng)智能BET法比表面積測(cè)定微孔結(jié)構(gòu)分布總孔體積孔隙度分析儀和F-Sorb X400系列4站BET比表面積測(cè)試及BJH介孔徑分布孔容孔隙率測(cè)量?jī)x.兩大系列產(chǎn)品品牌和公司信譽(yù)得到了客戶的高度認(rèn)可和普遍贊譽(yù),在同行業(yè)中處于領(lǐng)先地位.
        全自動(dòng)智能比表面積儀及中孔微孔分布測(cè)試儀,BET法比表面儀,比表面積測(cè)試儀,氮吸附比表面積測(cè)定儀,比表面檢測(cè)儀,比表面測(cè)量?jī)x,比表面積檢測(cè)儀,介孔微孔分布測(cè)定儀,比表面積測(cè)量?jī)x,BET比表面積分析儀,比表面測(cè)定儀,比表面測(cè)試儀,BET比表面分析儀,孔容積測(cè)定儀,孔徑分析儀,孔徑檢測(cè)儀,孔徑測(cè)量?jī)x,孔徑分布測(cè)定儀,孔隙度分析儀,介孔微孔分布分析儀,孔容積分析儀,孔徑分布檢測(cè)儀,孔徑分布測(cè)量?jī)x,孔隙率測(cè)定儀,孔隙率檢測(cè)儀,孔隙率測(cè)量?jī)x,孔容測(cè)試儀,孔結(jié)構(gòu)分析儀,孔徑測(cè)定儀,孔隙度檢測(cè)儀,孔隙度測(cè)量?jī)x,平均孔徑測(cè)試儀,介孔微孔分布測(cè)量?jī)x,孔結(jié)構(gòu)檢測(cè)儀,孔結(jié)構(gòu)測(cè)量?jī)x,總孔體積分析儀,孔容積測(cè)試儀,孔體積分析儀,孔體積檢測(cè)儀,孔體積測(cè)量?jī)x,平均孔徑測(cè)定儀,孔隙率分析儀,孔徑測(cè)試儀,孔徑分布測(cè)試儀,孔容檢測(cè)儀,孔容測(cè)量?jī)x,總孔體積測(cè)定儀,介孔微孔分布檢測(cè)儀,孔體積測(cè)試儀,平均孔徑分析儀,總孔體積檢測(cè)儀,總孔體積測(cè)量?jī)x,孔隙度測(cè)定儀,孔徑分布分析儀,平均孔徑檢測(cè)儀,平均孔徑測(cè)量?jī)x,孔結(jié)構(gòu)測(cè)定儀,總孔體積測(cè)試儀,孔隙率測(cè)試儀,孔結(jié)構(gòu)測(cè)試儀,孔容分析儀,孔體積測(cè)定儀,孔隙度測(cè)試儀,孔容測(cè)定儀等是粉體和顆粒材料的比表面積及孔徑(孔隙度)分布的檢測(cè)分析儀器,適用于吸附劑(如活性碳,硅膠,活性氧化鋁,分子篩,活性炭,硅酸鈣,海泡石,沸石等);陶瓷原材料(如氧化鋁,氧化鋯,硅酸鹽,氮化鋁,二氧化硅,氧化釔,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料補(bǔ)強(qiáng)劑(如炭黑,白碳黑,納米碳酸鈣,碳黑,白炭黑等);電池材料(如鈷酸鋰,錳酸鋰,石墨,鎳鈷酸鋰,氧化鈷,磷酸鐵鋰,鈦酸鋰,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物電池材料,堿錳材料,鋰離子材料,鋰錳材料,堿性材料,鋅錳材料,石英粉,鎂錳材料,碳性材料,鋅空材料,鋅汞材料,乙炔黑,鎳氫材料,鎳鎘材料,隔膜,活性物資,添加劑,導(dǎo)電劑,緩蝕劑,錳粉,電解二氧化錳,石墨粉,氫氧化亞鎳,泡沫鎳,改性石墨材料,正極活性物質(zhì),負(fù)極活性物質(zhì),鋅粉等);金屬氧化物(如氧化鋅,氧化鈣,氧化鈉,氧化鎂,氧化鋇,氧化鐵,氧化銅等);磁性粉末材料(如四氧化三鐵,鐵氧體,氧化亞鐵等);納米金屬材料(如納米銀粉,鐵粉,銅粉,鎢粉,鎳粉,鋁粉,鈷粉等);環(huán)保行業(yè)(如顏填料,柱填料,無(wú)機(jī)顏料,碳酸鈣,氧化硅,礦物粉,沉積物,懸浮物等);無(wú)機(jī)粉體材料(如氧化鈦,鈦白粉,二氧化鈦等);納米材料(如納米粉體材料,納米陶瓷材料等);稀土,煤炭(粉煤灰),水泥(礦渣粉),儲(chǔ)能材料,催化劑(硅藻土),凈化劑,助濾劑,土壤,黏土,石油斷裂劑,發(fā)光稀土粉末材料(熒光粉),粉體材料,粉末材料,超細(xì)纖維,多孔織物,復(fù)合材料等粉體和顆粒材料的比表面積及孔徑的檢測(cè)分析,廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產(chǎn)企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控.

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        2022-09-27

        用戶評(píng)論

        產(chǎn)品質(zhì)量

        10分

        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性?xún)r(jià)比

        10分
        評(píng)論內(nèi)容
        暫無(wú)評(píng)論!
        公司動(dòng)態(tài)
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        【促進(jìn)民營(yíng)經(jīng)濟(jì)高質(zhì)量發(fā)展】◎科技日?qǐng)?bào)記者 吳長(zhǎng)鋒  洪敬譜4月15日,在位于安徽合肥高新區(qū)的國(guó)儀量子技術(shù)(合肥)股份有限公司(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“國(guó)儀量子”),研發(fā)團(tuán)隊(duì)正在加緊調(diào)試一臺(tái)即將交

        電子順磁,共振珞珈!波譜校園行 武漢大學(xué)站成功舉行

        4月11日-14日,【國(guó)儀順磁學(xué)院】2025年首期波譜校園行活動(dòng)——2025年華中地區(qū)高級(jí)電子順磁共振波譜研修班在武漢大學(xué)成功舉行。來(lái)自華中地區(qū)高校、科研院所的80余位老師同學(xué),與蘇吉虎教授一起,圍繞

        國(guó)儀電鏡論壇走進(jìn)內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué),共話國(guó)產(chǎn)電鏡發(fā)展機(jī)遇

        4月9日,“國(guó)儀電鏡論壇暨內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué)國(guó)產(chǎn)電鏡技術(shù)講座”在內(nèi)蒙古工業(yè)大學(xué)實(shí)驗(yàn)管理中心(測(cè)試中心)成功舉辦,吸引了來(lái)自周邊院校的多位電鏡領(lǐng)域?qū)<覍W(xué)者參與。本次論壇以“國(guó)產(chǎn)電鏡的發(fā)展與機(jī)遇”為主題,聚焦

        技術(shù)文章
        國(guó)儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告

        國(guó)儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 在芯片制造工藝中,金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié)。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性,對(duì)芯片的性能

        國(guó)儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告

        國(guó)儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升,芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號(hào)傳輸與芯片功能實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在芯片工作時(shí),Al 互連導(dǎo)線

        國(guó)儀量子電鏡在芯片鈍化層開(kāi)裂失效分析的應(yīng)用報(bào)告

        國(guó)儀量子電鏡在芯片鈍化層開(kāi)裂失效分析的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域,芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色。它作為芯片的 “防護(hù)鎧甲”,覆蓋在芯片表面,隔絕外界環(huán)境中的濕氣、雜質(zhì)以及機(jī)械應(yīng)力等不利

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