中國粉體網(wǎng)訊  2020年7月3日，由中國粉體網(wǎng)聯(lián)合中國顆粒學會顆粒測試專委會、北京粉體技術協(xié)會共同舉辦的“粉體粒度表征及在線檢測技術網(wǎng)絡研討會”正在如火如荼的進行。來自華南師范大學的韓鵬老師帶來了題為《動態(tài)光散射納米顆粒測試技術進展》的精彩報告。

首先，韓鵬老師從基本原理入手，闡述了散射光信號的獲取、相關運算方法及粒度反演的方法。其次，韓鵬老師向大家分享了動態(tài)光散射納米顆粒測試技術的一些關鍵概念，包括布朗運動+散射光的干涉這一理論基礎，統(tǒng)計測量這一測量技術和反演算法的粒徑計算方法。

布朗運動的原因是環(huán)境（液體、氣體）分子的熱運動撞擊顆粒，它有隨機性、連續(xù)性及熱效應性，隨機性即顆粒下一個位置不可預測，連續(xù)性即運動不停止，熱效應則是溫度升高，運動加快，布朗運動的影響因素是非球形顆粒：旋轉(zhuǎn)擴散、平移擴散；顆粒間相互作用：帶電、濃度過高；環(huán)境：界面、微量樣品池以及其他運動。

散射光干涉的原因是不同顆粒的散射光之間的干涉，其特點是隨機性-散射光隨時間變化）、相關性-變化快慢與顆粒運動速度有關和離散性-光子計數(shù)，其影響因素則是激光的穩(wěn)定性、散射光的強度、系統(tǒng)的相干性和環(huán)境光干擾。

韓鵬老師還講到，測量技術一定要保證樣本數(shù)足夠，因為這樣可以通過對足夠樣本數(shù)的信號統(tǒng)計進行平均，測量技術-相干因子則受光源的相干性、儀器檢測結構設計及樣品特性的影響。韓鵬老師著重強調(diào)了粒徑計算-累積法的重要性，因為它是ISO標準推薦的方法，具有簡單、穩(wěn)定的特點，此外他還介紹了非負最小二乘法、CONTIN、正則化、直方圖法、貝葉斯法以及遺傳算法等粒徑算法。

在報告的最后，韓鵬老師向大家介紹了后向測量、退偏振、多角度、低相干光源、在線測量以及圖像法的技術進展，并闡述了它們各自的優(yōu)缺點及發(fā)展方向。

課程結束后，觀眾紛紛拋出疑問，韓鵬老師也一一耐心給予解答，此次研討會也受到了大家的廣泛好評。

（中國粉體網(wǎng)編輯整理/初末）

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