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            新型SiC拋光技術(shù),效率飆升10倍!


            來(lái)源:中國(guó)粉體網(wǎng)   空青

            [導(dǎo)讀]  日本立命館大學(xué)(Ritsumeikan University)一研究團(tuán)隊(duì)開(kāi)發(fā)了一種新型的ECMP(電化學(xué)機(jī)械拋光)技術(shù),實(shí)現(xiàn)了約15μm/h的材料去除率,使得SiC拋光得到大幅度提升。

            中國(guó)粉體網(wǎng)訊  隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展,碳化硅(SiC)作為一種卓越的高性能材料,正日益成為科研界關(guān)注的焦點(diǎn)。然而,其卓越的硬度和化學(xué)穩(wěn)定性特性,在為材料帶來(lái)優(yōu)勢(shì)的同時(shí),也給拋光工藝設(shè)置了重重難關(guān)。特別是在晶圓的精密制造環(huán)節(jié)中,傳統(tǒng)的化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)方法遭遇了嚴(yán)峻挑戰(zhàn),包括如何有效消除表面缺陷以及提升材料去除效率等關(guān)鍵問(wèn)題亟待解決。


            近日,日本立命館大學(xué)(Ritsumeikan University)一研究團(tuán)隊(duì)開(kāi)發(fā)了一種新型的ECMP(電化學(xué)機(jī)械拋光)技術(shù),實(shí)現(xiàn)了約15μm/h的材料去除率,使得SiC拋光得到大幅度提升。


            該團(tuán)隊(duì)開(kāi)發(fā)的這種技術(shù),在拋光過(guò)程中,碳化硅襯底作為陽(yáng)極,與拋光板(陰極)之間夾著SPE/CeO2復(fù)合材料襯墊。當(dāng)施加偏置電壓時(shí),碳化硅表面與SPE發(fā)生電解反應(yīng),形成一層易于去除的氧化膜,這層氧化膜隨后被襯墊中的CeO2顆粒去除。



            ECMP對(duì)碳化硅表面形態(tài)的改變(左)、經(jīng)ECMP處理的碳化硅(0001)表面的AFM圖像(右)


            該技術(shù)的優(yōu)勢(shì)在于:


            環(huán)保高效:ECMP技術(shù)避免了使用有害的液體化學(xué)物質(zhì),減少了對(duì)環(huán)境的影響;

            高去除率:該技術(shù)實(shí)現(xiàn)了約15μm/h的材料去除率(MRR),是傳統(tǒng)CMP的10倍;

            質(zhì)量高:通過(guò)ECMP處理的碳化硅襯底表面光滑,粗糙度可降至亞納米級(jí)別。


            什么是ECMP?


            目前化學(xué)機(jī)械拋光的材料去除率以及加工后的表面粗糙度,已經(jīng)很難通過(guò)改變工藝取得大的突破。在CMP拋光的基礎(chǔ)上施加增效輔助,成為了近些年大幅度提高材料去除率和降低表面粗糙度的最優(yōu)選擇。


            ECMP是一種利用電解液作為拋光液,將工件的電化學(xué)腐蝕與機(jī)械拋光相結(jié)合的精密工藝。在單晶SiC (作為陽(yáng)極)表面帶電后通過(guò)陽(yáng)極氧化產(chǎn)生氧化層,然后用軟磨料機(jī)械去除氧化層,最后獲得超光滑無(wú)損傷的表面。該技術(shù)方法通常用于產(chǎn)生難以通過(guò)機(jī)械拋光實(shí)現(xiàn)的光澤的表面。


            但采用這種方法時(shí),若陽(yáng)極電流較弱,則加工表面質(zhì)量較好,但材料去除率變化不大;若陽(yáng)極電流較強(qiáng),則材料去除率顯著提高,但陽(yáng)極電流過(guò)強(qiáng)會(huì)導(dǎo)致表面精度下降及多孔現(xiàn)象。由此可見(jiàn),對(duì)化學(xué)機(jī)械拋光施加外電場(chǎng)進(jìn)行電化學(xué)機(jī)械拋光時(shí),試件表層的氧化速率和材料去除率相協(xié)調(diào)的問(wèn)題,是高效獲得光滑表面的關(guān)鍵點(diǎn)。


            該團(tuán)隊(duì)在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中,首先研究了電解電流密度對(duì)碳化硅襯底材料去除率的影響,發(fā)現(xiàn)MRR與電解電流密度成正比,且在一定的電流密度下達(dá)到飽和:在電解電流密度低于10 mA/cm2時(shí),MRR隨電流密度的增加而增加,超過(guò)15 mA/cm2后,MRR達(dá)到飽和狀態(tài),法拉第效率開(kāi)始下降,表明電流密度的進(jìn)一步提高并沒(méi)有帶來(lái)更高的材料去除效率。


            目前看來(lái),CMP不管是在實(shí)驗(yàn)原理上,還是在實(shí)驗(yàn)設(shè)置上,都是最簡(jiǎn)單、最容易實(shí)現(xiàn)的。但拋光液通常含有強(qiáng)酸或者強(qiáng)堿以及強(qiáng)氧化劑,對(duì)環(huán)境以及實(shí)驗(yàn)者會(huì)產(chǎn)生危害,而且其拋光效率已到了瓶頸。


            像ECMP這類型的增效化學(xué)機(jī)械拋光也得到了越來(lái)越多的關(guān)注,隨著SiC器件應(yīng)用范圍的不斷擴(kuò)大,對(duì)SiC襯底的加工效率及表面質(zhì)量也提出了更高的要求。此項(xiàng)新技術(shù)不僅滿足加工效率及表面質(zhì)量的保證,還為SiC襯底制造綠色發(fā)展注入了新力量。


            來(lái)源:

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            (中國(guó)粉體網(wǎng)編輯整理/空青)

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            推薦8

            作者:空青

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