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北京精微高博比表面測試儀 2012-05-24 點擊1947次
2012年5月15-17日，作為中國比表面及孔徑分析儀的開創(chuàng)者和領(lǐng)航者，北京精微高博科學技術(shù)有限公司參加了中國儀器儀表行業(yè)協(xié)會主辦的級別最高、規(guī)模最大的盛會——第十屆中國國際科學儀器及實驗室裝備展覽會（CISILE 2012）。參加此次展會的還有島津、賽默飛世爾等全球知名企業(yè)。這次展會匯聚了行業(yè)精品，主要有國內(nèi)外材料力學性能實驗設(shè)備、分析測試儀器、光學儀器、生化技術(shù)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域的先進技術(shù)及產(chǎn)品，全面展示了當今世界科學儀器產(chǎn)業(yè)界最新產(chǎn)品與尖端技術(shù)。
參展期間，很多觀眾對JW-比表面及孔徑分析儀有濃厚興趣，不斷詢問儀器的技術(shù)參數(shù)、性能特點以及操作方法，加深了客戶對我公司產(chǎn)品的了解，也提升了我公司在國內(nèi)的形象，起到了一定宣傳作用。此次參展活動，精微高博展出了表界面物性界最精良、最前沿的科技新品——JW比表面分析測試儀，最吸引觀眾眼球的是精微自主研發(fā)的JW-BF-270型比表面及孔徑分析儀，具有兩個獨立分析站，能同時分別測試微孔和介孔，重復(fù)性好，測試精度已趕超國際先進水平。
現(xiàn)場交流
最值得一提的是，JW-BK122F型比表面及孔徑分析儀喜獲“自主創(chuàng)新金獎”，充分體現(xiàn)了國產(chǎn)比表面分析儀的自主創(chuàng)新能力和水平又邁上了一個新臺階。北京精微高博正是憑借自主創(chuàng)新能力取得了市場競爭力和國際影響力，會一如既往的堅持自主創(chuàng)新，提升研發(fā)水平，繼續(xù)為中國物性分析測試儀器事業(yè)的發(fā)展貢獻自身力量。
北京精微高博公司古燕玲總經(jīng)理上臺領(lǐng)獎
自主創(chuàng)新獎