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雙電測(cè)四探針電阻率/方阻測(cè)試儀
一.應(yīng)用說(shuō)明Widely used:
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試
雙電測(cè)四探針電阻率/方阻測(cè)試儀
二.描述Description:
采用四探針組合雙電測(cè)量方法,液晶顯示,自動(dòng)測(cè)量,自動(dòng)量程,自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響.
雙電測(cè)四探針電阻率/方阻測(cè)試儀
三.參數(shù)資料Parameters
規(guī)格型號(hào)/ model | FT-343 |
1.方塊電阻sheet resistance | 10-3~2×105Ω/□ |
2.電阻率Resistivity | 10-4~2×106Ω-cm |
3.測(cè)試電流Test current | 0.1μA.μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA |
4.電流精度Current | ±0.2% accuracy |
5.電阻精度Resistance | ≤0.3% accuracy |
6.顯示讀數(shù)display | 屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity |
7.測(cè)試方式 | test mode雙電測(cè)量Double electrical measurement |
8.電源Power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W |
9.誤差errors | ≤3%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果) |
10.選購(gòu)功能choose to buy | 選購(gòu)1.pc軟件; 選購(gòu)2.方形探頭; 選購(gòu)3.直線形探頭; 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái);5.標(biāo)準(zhǔn)電阻.1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform |
11.測(cè)試探頭test probe | 探針間距選購(gòu):1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu):碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm;2mm;3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |
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