散射角對相關(guān)光譜法納米顆粒測量的影響

編號：CSJS00025

篇名：散射角對相關(guān)光譜法納米顆粒測量的影響

作者：趙軍; 孔明; 李春燕;

關(guān)鍵詞：相關(guān)光譜法; 散射角; 納米顆粒; 米氏散射;

機構(gòu)： 中國計量學(xué)院計量測試工程學(xué)院;

摘要： 研究散射角對相關(guān)光譜法納米顆粒測量的影響,對相關(guān)光譜法納米顆粒實驗系統(tǒng)進行改造,實現(xiàn)不同的散射角下納米顆粒的相關(guān)光譜法測量。實驗采用30nm和200nm的混合顆粒群,按不同比例進行混合,在90°和165°散射角對混合顆粒群進行測量,并對此實驗結(jié)果進行了理論分析,結(jié)果表明,在對單一顆粒群進行測量時,在兩個角度都能實現(xiàn)顆粒的準(zhǔn)確測量,而在混合顆粒群測量時,測量結(jié)果受兩種顆粒群混合比影響,而165°散射角具有更好的測量結(jié)果,因此在對混合納米顆粒群進行測量時,采用大的散射角有助于顆粒的反演。