導(dǎo)電粉體堆砌體積電阻率的測試方法研究

編號：FTJS00588

篇名：導(dǎo)電粉體堆砌體積電阻率的測試方法研究

作者：李雪飛; 韓婷婷; 張巖; 胡潔; 鄭元鎖;

關(guān)鍵詞：金屬材料; 銀粉; 粉體; 導(dǎo)電; 體積電阻率;

機(jī)構(gòu)： 西安交通大學(xué)理學(xué)院;

摘要： 設(shè)計(jì)了一種金屬粉體導(dǎo)電特性的表征方法,以銀粉為測試樣本,采用堆砌體積電阻率表征粉體的導(dǎo)電特性。分別考察了填充量、測試負(fù)荷、測試穩(wěn)定時間等因素對銀粉堆砌體積電阻率的影響。結(jié)果表明當(dāng)銀粉填充量為4 g、測試負(fù)荷為800 g和測試穩(wěn)定時間為30 min時,所得實(shí)驗(yàn)結(jié)果可以準(zhǔn)確反映銀粉的堆砌體積電阻率。