基于動(dòng)態(tài)光散射的SiO2/H2O納米流體分散穩(wěn)定性初探

編號(hào)：NMJS06108

篇名：基于動(dòng)態(tài)光散射的SiO2/H2O納米流體分散穩(wěn)定性初探

作者：申韶磊 ;畢勝山 ;胡豐凡 ;譚益農(nóng) ;馬綸建 ;崔軍衛(wèi) ;吳江濤

關(guān)鍵詞：動(dòng)態(tài)光散射 納米流體 黏度 顆粒粒徑

機(jī)構(gòu)： 西安交通大學(xué)熱流科學(xué)與工程教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室能源與動(dòng)力工程學(xué)院,西安710049

摘要： 基于動(dòng)態(tài)光散射法,采用同差探測(cè)實(shí)現(xiàn)了納米流體分散體系的粒度測(cè)量。對(duì)體積分?jǐn)?shù)為0.005%和0.0025%濃度的SiO2/H2O納米流體顆粒粒徑進(jìn)行了測(cè)量,粒徑的實(shí)驗(yàn)值的平均偏差分別為1.37%和1.39%,可以滿(mǎn)足納米顆粒粒徑的高精度測(cè)量要求。兩種濃度的SiO2/H2O納米流體的平均粒徑基本一致,偏差在實(shí)驗(yàn)的不確定度以?xún)?nèi),且隨時(shí)間無(wú)明顯變化,證明了顆粒分散的穩(wěn)定性,本方法可以用于納米流體分散穩(wěn)定性的評(píng)價(jià)。