X射線熒光光譜法測定氧化鋁中雜質含量的質量控制方法

編號：NMJS07549

篇名：X射線熒光光譜法測定氧化鋁中雜質含量的質量控制方法

作者：李三艷 羅正紅 李輝 王桂花 曾奇 吳攸

關鍵詞： 質量控制 X射線熒光光譜法(XRF) 氧化鋁 二氧化硅 三氧化二鐵 氧化鈉

機構： 重慶旗能電鋁有限公司

摘要： 為滿足本公司生產需求,實驗室采用X射線熒光光譜法(XRF)測定氧化鋁中SiO 2、Fe 2O 3、Na 2O含量,而XRF檢測結果的準確性取決于日常質量控制效果。工作中總結出一套以XRF設備分析原理為基礎結合氧化鋁中SiO 2、Fe 2O 3、Na 2O測定經驗的有效質量控制方法,論述了質量控制計劃制定的依據及質量控制方法選擇的原則,從儀器設備檢測狀態(tài)控制、樣品制備方法選擇、XRF漂移校正、標準樣品檢測、方法比對、人員比對及留樣再測等方面詳細介紹了內部質量控制方法,同時運用實驗室間比對及測量審核兩種外部質量控制方法對內部質量控制效果進行檢驗。通過統(tǒng)計分析內外部質量控制數據,發(fā)現實驗室用XRF測定粉末壓片法制樣的氧化鋁中SiO 2、Fe 2O 3、Na 2O含量,檢測結果準確可靠,證明質量控制方法有效。該套質量控制經驗對于XRF測定其他材料中雜質元素含量的質量控制方法的建立同樣具有參考借鑒意義。