波長色散X射線熒光光譜法測定中低品位鋁土礦和高硫鋁土礦中主次組分

編號：FTJS07822

篇名：波長色散X射線熒光光譜法測定中低品位鋁土礦和高硫鋁土礦中主次組分

作者：陸安軍 蘇夢曉

關(guān)鍵詞： 波長色散X射線熒光光譜法 中低品位鋁土礦 高硫鋁土礦 熔融制樣 主次組分

機構(gòu)： 廣西第四地質(zhì)隊

摘要： 中低品位鋁土礦種類繁多,Al2O3含量較低,而其他組分較為復(fù)雜,常富含F(xiàn)e2O3、CaO、MgO、S等組分,應(yīng)用熔融制樣-X射線熒光光譜法(XRF)測定富含F(xiàn)e2O3、S的樣品在熔融時會腐蝕鉑-金坩堝,樣品流動性差,而且高溫下S揮發(fā)嚴(yán)重。實驗使用NH4NO3作為氧化劑,采用熔融法制樣,建立了波長色散X射線熒光光譜法同時測定中低品位鋁土礦和高硫鋁土礦中Al2O3、SiO2、Fe2O3、CaO、TiO2、K2O、Na2O、MgO、P2O5、S的分析方法。為了拓寬Fe2O3、S等組分的含量范圍,采用國家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)之間互相配制和經(jīng)多次化學(xué)分析的樣品來繪制校準(zhǔn)曲線;通過試驗確定樣品與熔劑的稀釋比為1∶20,加入1.0gNH4NO3作為氧化劑,滴加0.5mLLiBr溶液作脫模劑,在1050℃下熔樣8min,可制得透徹、玻璃化程度高的樣片。各組分的檢出限在27.7~259μg/g之間,各組分測定結(jié)果的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差(RSD,n=12)小于3%。經(jīng)實際樣品分析,各組分測定值與其他方法分析結(jié)果相吻合,有效解決了富含F(xiàn)e2O3、S的中低品位鋁土礦和高硫鋁土礦的制樣問題及S不易被準(zhǔn)確測定的難題,可用于測定S質(zhì)量分?jǐn)?shù)15%以內(nèi)的鋁土礦樣品。