粉末粒度對(duì)現(xiàn)代X射線粉末衍射儀測(cè)量的影響

編號(hào)：CYYJ01667

篇名：粉末粒度對(duì)現(xiàn)代X射線粉末衍射儀測(cè)量的影響

作者：王春建 許艷松 周烈興

關(guān)鍵詞： X射線衍射 物相分析 粉末粒度 Zn3 As_( 2) 衍射峰

機(jī)構(gòu)： 昆明理工大學(xué)分析測(cè)試研究中心

摘要： 對(duì)Zn3As 2材料研磨,共獲取6種不同粒度分布的試樣,研究了粒度分布對(duì)現(xiàn)代X射線粉末衍射儀測(cè)量的影響,結(jié)果發(fā)現(xiàn):試樣粒度的變化對(duì)衍射峰位置、高度和中高測(cè)量角度范圍內(nèi)的半高寬影響顯著。粒度的減小使衍射峰的位置偏差趨于穩(wěn)定、衍射峰高度則普遍增加;粒度較大時(shí),中高測(cè)量角度范圍內(nèi)的半高寬變化劇烈,當(dāng)粒度足夠細(xì)致時(shí),半高寬的變化趨于平緩。