高流速離子源輝光放電質(zhì)譜校正靈敏度因子法定量分析鎳基高溫合金中痕量稀土及貴金屬元素

編號：NMJS09273

篇名：高流速離子源輝光放電質(zhì)譜校正靈敏度因子法定量分析鎳基高溫合金中痕量稀土及貴金屬元素

作者：屈華陽 張馨元 胡凈宇 楊國武 王海舟

關(guān)鍵詞： 輝光放電質(zhì)譜法 鎳基 高溫合金 稀土元素 貴金屬元素 校正靈敏度因子

機構(gòu)： 鋼鐵研究總院 鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司

摘要： 該文通過全面優(yōu)化高流速輝光放電離子源分析高溫合金痕量元素的儀器條件,系統(tǒng)研究高溫合金復雜基體元素造成的質(zhì)譜干擾,選取稀土元素和貴金屬元素分析同位素與合適的質(zhì)譜分辨率,確立了基于基體匹配的變形高溫合金標準物質(zhì)系列的校正靈敏度因子(RSF)定量方案,使測定結(jié)果的相對誤差由4.0%~80%優(yōu)化至7.7%~20%,并為痕量分析結(jié)果提供了可靠的計量溯源依據(jù)�；�于此所建立的輝光放電質(zhì)譜(GDMS)測定鎳基高溫合金中稀土元素和貴金屬元素的方法檢出限為0.0010~0.015μg/g,定量下限為0.0030~0.045μg/g。應用于變形高溫合金和鑄造高溫合金實際樣品中稀土元素和貴金屬元素的分析,測定結(jié)果與濕法分析的參考值吻合較好,較好地驗證了輝光放電固體樣品快捷分析的優(yōu)勢,體現(xiàn)了高分辨質(zhì)譜檢出限低、線性范圍寬、可分析元素多的特點,在高溫合金材料質(zhì)控中有著巨大的應用前景。