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            日本JEOL電子探針顯微分析儀JXA-8230
            日本JEOL電子探針顯微分析儀JXA-8230

            參考價(jià)格

            面議

            型號(hào)

            品牌

            產(chǎn)地

            日本

            樣本

            暫無
            深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司

            會(huì)員

            |

            第2年

            |

            生產(chǎn)商

            工商已核實(shí)

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            產(chǎn)品詳情

            JXA-8230 電子探針顯微分析儀

            可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器,組合使用WDS和EDS,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

            產(chǎn)品規(guī)格:

            檢測(cè)元素范圍

            WDS:(Be)*1 /B~U, EDS:B~U

            X射線檢測(cè)范圍

            WDS檢測(cè)的波長(zhǎng)范圍: 0.087~9.3nm,

            EDS EDS檢測(cè)的能量范圍: 20keV

            分光譜儀數(shù)量

            WDS: 1~5道可選、EDS: 1臺(tái)

            **樣品尺寸

            100mm × 100mm × 50mm(H)

            加速電壓

            0~30kV(以0.1 kV為步長(zhǎng))

            束流電流范圍

            10-12 ~ 10-5 A

            束流電流穩(wěn)定度

            5%/h, ±0.3%/12h(W)

            二次電子分辨率

            6nm(W), 5nm(LaB6*2

            (W.D. 11mm, 30kV)

            掃描倍率

            ×40 ~ ×300,000(W. D. 11mm)

            掃描圖像分辨率

            ** 5,120× 3,840

            彩色顯示器

            EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024

            SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024

            光學(xué)顯微鏡

            分辨率

            ~1um

            焦深

            1um

            真空系統(tǒng)

            機(jī)械泵、分子泵、離子泵 *2

            真空度

            樣品室: 優(yōu)于8.0 x 10-4Pa,

            電子槍: 優(yōu)于9.0 x 10-5Pa

            產(chǎn)品特點(diǎn):

            · 可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器,組合使用WDS和EDS,能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

            · 日本電子新開發(fā)出的EPMA (電子探針)秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史,JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡(jiǎn)單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析,這是JEOL長(zhǎng)年來對(duì)高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能完全滿足多種需求的強(qiáng)力分析工具之一。

            ·

            · EPMA快速啟動(dòng)

            · 點(diǎn)擊任何一點(diǎn),就能開始預(yù)設(shè)的EDS定性、定量分析或WDS分析。

            ·

            · 用戶菜單(User recipes)

            · 能保存或調(diào)用經(jīng)常使用的各種不同類型的樣品分析條件,菜單中包括了全部的電子光學(xué)參數(shù)、EDS和WDS參數(shù)在內(nèi)。

            ·

            ·

            · EDS 的性能

            · 數(shù)字化脈沖處理器

            · 全譜面分布(WD/ED, 樣品臺(tái)和電子束掃描)

            · 無風(fēng)扇SDD (選配)

            創(chuàng)新點(diǎn)

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            用戶評(píng)論

            產(chǎn)品質(zhì)量

            10分

            售后服務(wù)

            10分

            易用性

            10分

            性價(jià)比

            10分
            評(píng)論內(nèi)容
            暫無評(píng)論!
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            • 日本JEOL電子探針顯微分析儀JXA-8230使用的注意事項(xiàng)
            • 日本JEOL電子探針顯微分析儀JXA-8230的說明書有嗎?
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