參考價(jià)格
面議型號(hào)
SiCOPE系列品牌
國(guó)儀量子產(chǎn)地
安徽合肥樣本
暫無誤差率：
0%；最可幾孔徑重復(fù)偏差分辨率：
分析站和P0站： 1000 Torr精度±0.1%重現(xiàn)性：
比表面積重復(fù)性（RSD）≤1.0%儀器原理：
靜態(tài)容量法分散方式：
4站原位脫氣；并配置獨(dú)立樣品預(yù)處理設(shè)備測(cè)量時(shí)間：
3.3L杜瓦瓶長(zhǎng)效保溫72h測(cè)量范圍：
比表面積:0.0005 m2 /g及以上; 孔徑:0.35-500 nm孔徑精準(zhǔn)分析;總孔體積:0.0001 cc/g及以上看了微孔分析儀 SiCOPE系列的用戶又看了
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微孔分析儀
SiCOPE系列
SiCOPE系列微孔分析儀為微孔材料精準(zhǔn)表征而設(shè)計(jì)，在0.35-2 nm孔徑范圍的測(cè)量精準(zhǔn)度達(dá)到國(guó)際**水平。依托精密管路設(shè)計(jì)和高品質(zhì)核心部件，結(jié)合強(qiáng)大且靈活的數(shù)據(jù)分析模型，為分子篩、多孔碳、MOFs等材料研究提供了高分辨率分析保障，助力科研探索與工業(yè)研發(fā)多領(lǐng)域突破。
核心優(yōu)勢(shì)
比表面積重復(fù)精度≤1%，*可幾孔徑重復(fù)偏差≤0.02nm
不少于40種NLDFT模型助力多孔材料分析
支持N2、CO2、Ar、H2等其他非腐蝕性氣體測(cè)試
各分析站配置
獨(dú)立壓力傳感器
4站同步分析
垂直上推式防護(hù)門
操作便捷
不占用額外空間
3.3L杜瓦瓶
長(zhǎng)效保溫72h
內(nèi)嵌進(jìn)度燈條
實(shí)時(shí)反饋測(cè)試進(jìn)度
產(chǎn)品特點(diǎn)
精準(zhǔn)控氣 效能提升
采用高精度比例閥與電磁閥聯(lián)動(dòng)控制技術(shù)，確保目標(biāo)壓力點(diǎn)的快速精準(zhǔn)控制，大幅提升儀器運(yùn)行效率，控氣精度達(dá)±0.5 mmHg。
精準(zhǔn)控漏 精度**
創(chuàng)新性自研自鎖閥、電磁閥等核心部件，技術(shù)自主可控，極低漏率為低壓微孔段測(cè)試提供高精度保障。
模型精鑄 洞見非凡
軟件內(nèi)置算法集成BET、Langmuir、HK等常用分析模型及不少于40種NLDFT模型；BET一鍵智能選點(diǎn)，解決微孔材料BET段前移的選點(diǎn)問題，消除不同人員處理數(shù)據(jù)的偏差。
無塵精裝 穩(wěn)定保障
核心模塊在ISO Class 7萬級(jí)潔凈間（電鏡級(jí)裝配標(biāo)準(zhǔn)）完成全密封組裝，相較傳統(tǒng)裝配環(huán)境潔凈度提升兩個(gè)數(shù)量級(jí)，確保氣路系統(tǒng)的可靠性和穩(wěn)定性。
自動(dòng)后標(biāo) 零氦測(cè)試
采用He-Free自由空間后置標(biāo)定方案，從源頭消除氦氣殘留對(duì)測(cè)試的干擾，為超微孔材料精準(zhǔn)分析提供可靠方案。
靈活脫氣 轉(zhuǎn)移無憂
支持原位與異位兩種脫氣方式，提供空氣隔離塞或真空隔離塞，保障微孔樣品從脫氣站轉(zhuǎn)移至分析站過程零污染。
人性設(shè)計(jì) 省力高效
垂直上推式防護(hù)門操作便捷、節(jié)省空間；杜瓦瓶設(shè)計(jì)符合人體工學(xué)，方便拿取；設(shè)備底座內(nèi)嵌進(jìn)度燈條實(shí)時(shí)反饋測(cè)試進(jìn)度。
暫無數(shù)據(jù)！
摘要：硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料，因?yàn)榫哂辛己玫目拐承?、增流性和?rùn)滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用，作為常用的藥用輔料潤(rùn)滑劑，比表面積對(duì)硬脂酸鎂有很大的影響，硬脂酸鎂的比表面積越大，其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點(diǎn)、高硬度、高耐磨性、耐氧化等一系列特點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè)、汽車工業(yè)、紡織、化工、航空航天等國(guó)民經(jīng)濟(jì)的各個(gè)領(lǐng)域。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu)，是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
助力“土壤三普” | 氣體吸附技術(shù)在土壤膠體表征中的應(yīng)用 有關(guān)吸附等溫線中的滯后環(huán) 有關(guān)分子篩結(jié)構(gòu) 淺析BET BJH孔徑分布計(jì)算模型 有關(guān)BET測(cè)試中的常見問題（三） 有關(guān)BET測(cè)試中的常見問題（二） 有關(guān)BET測(cè)試中的常見問題（一） 動(dòng)、靜態(tài)吸附法比較 淺析吸附方式中的t-plot 
近日，由重慶大學(xué)材料學(xué)院、重慶大學(xué)電鏡中心、國(guó)儀量子技術(shù)（合肥）股份有限公司主辦，布魯克（北京）科技有限公司、深圳速普儀器有限公司協(xié)辦的 “國(guó)儀電鏡論壇暨重慶大學(xué)電子顯微技術(shù)交流會(huì)” 在重慶市沙坪壩區(qū)
【促進(jìn)民營(yíng)經(jīng)濟(jì)高質(zhì)量發(fā)展】◎科技日?qǐng)?bào)記者 吳長(zhǎng)鋒 洪敬譜4月15日，在位于安徽合肥高新區(qū)的國(guó)儀量子技術(shù)（合肥）股份有限公司（以下簡(jiǎn)稱“國(guó)儀量子”），研發(fā)團(tuán)隊(duì)正在加緊調(diào)試一臺(tái)即將交
4月11日-14日，【國(guó)儀順磁學(xué)院】2025年首期波譜校園行活動(dòng)——2025年華中地區(qū)高級(jí)電子順磁共振波譜研修班在武漢大學(xué)成功舉行。來自華中地區(qū)高校、科研院所的80余位老師同學(xué)，與蘇吉虎教授一起，圍繞
國(guó)儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 在芯片制造工藝中，金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié)。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性，對(duì)芯片的性能
國(guó)儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測(cè)的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升，芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號(hào)傳輸與芯片功能實(shí)現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在芯片工作時(shí)，Al 互連導(dǎo)線
國(guó)儀量子電鏡在芯片鈍化層開裂失效分析的應(yīng)用報(bào)告一、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域，芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色。它作為芯片的 “防護(hù)鎧甲”，覆蓋在芯片表面，隔絕外界環(huán)境中的濕氣、雜質(zhì)以及機(jī)械應(yīng)力等不利
微孔分析儀 SiCOPE系列的工作原理介紹？微孔分析儀 SiCOPE系列的使用方法？微孔分析儀 SiCOPE系列多少錢一臺(tái)？微孔分析儀 SiCOPE系列使用的注意事項(xiàng)微孔分析儀 SiCOPE系列的說明書有嗎？微孔分析儀 SiCOPE系列的操作規(guī)程有嗎？微孔分析儀 SiCOPE系列的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？微孔分析儀 SiCOPE系列有現(xiàn)貨嗎？微孔分析儀 SiCOPE系列包安裝嗎？
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