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Nicomp 380 激光粒度儀 采用動態(tài)光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍0.3nm – 10μm。粒度分析復(fù)合采用Gaussian單峰算法和擁有專利技術(shù)的NiComp多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有獨特優(yōu)勢，其優(yōu)異的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品無可比擬的。整機采用模塊化設(shè)計,可靈活方便地擴展Zeta電位等其它功能。詳細介紹

Nicomp 380 激光粒度儀

基本概述：

Nicomp 380 DLS是納米粒徑分析儀器，采用現(xiàn)在先進的動態(tài)光散射原理，利用專利的Nicomp多峰算法可以很準確的分析比較復(fù)雜多組分混合樣品。為實驗室的研究提供最好的分析技術(shù)。 測試范圍：0.3 nm – 10μm。

產(chǎn)品介紹：

 Nicomp 380 DLS 采用動態(tài)光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3 nm- 6μm。粒度分析復(fù)合采用 Gaussian 單峰算法和擁有專利技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有獨特優(yōu)勢，其優(yōu)異的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品無可比擬的。