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新品發(fā)布

Litesizer DIF Litesizer DLS 

Litesizer DIF 激光衍射粒度儀

Litesizer DLS 系列

動態(tài)光散射粒度

和 Zeta 電位分析儀

01Litesizer DIF 激光衍射粒度儀

安東帕的新型激光衍射粒度儀，它建立在近 60 年的專業(yè)知識和其前身 PSA 的寶貴經(jīng)驗之上。

Litesizer DIF 提供領(lǐng)航新一代的粒度測量技術(shù)，測量范圍從 10 nm 到 3.5 mm。這是一個新時代的開始，擁有一流的光學(xué)系統(tǒng)、強(qiáng)大的 10 mW 和 25 mW 雙波長激光器，以及領(lǐng)先的 0.01° 到 170° 的寬范圍衍射角檢測器陣列。

主要特點(diǎn)

• 尺寸范圍從10nm 到 3.5mm

• 兩個固態(tài)激光器，10 年保修

• 市場上最高的激光功率和最寬的角度范圍

• 16kHz 的尖端數(shù)據(jù)采集率

• 光學(xué)系統(tǒng)具有減震和防塵設(shè)計，穩(wěn)定耐用

• 快速連接的分散單元（可與Litesizer DIA互換）

• Kalliope軟件-直觀的一頁工作流程設(shè)計和專用的QC模式

  
  

行業(yè)應(yīng)用

水泥和礦物

制藥行業(yè)

食品飲料

化學(xué)工業(yè)

催化劑

金屬粉末

02Litesizer DLS 系列動態(tài)光散射粒度

和 Zeta 電位分析儀

全新 Litesizer DLS 系列動態(tài)光散射粒度和Zeta電位分析儀提供世界領(lǐng)先的粒度和 Zeta 電位測量功能。具有業(yè)界先進(jìn)的多角度測量和自動角度選擇功能，更為先進(jìn)的 MAPS（多角度協(xié)同粒度測量）技術(shù)，可實現(xiàn)最高的峰值分辨率。連續(xù)透射率監(jiān)測可在測量過程中檢測沉降和團(tuán)聚，從而提高測量的可靠性。

主要特點(diǎn)

• 全功能模式：智能多角度DLS粒度測量、多角度聯(lián)合MAPS粒度測量、ELS模式Zeta電位測量、SLS分子量測量、PCON粒子濃度測量、透光率測量、折光率測量

• 測量溫度： 0 到120℃

• 最小樣品量：1.5μL

• DLS 測量角度：15°、90°、175°三角度

• 粒度測量范圍從 0.3 nm 到 12 μm

• 專利 cmPALS 技術(shù)，市場領(lǐng)先的 Zeta 電位分析

• Kalliape軟件：粒度測量軟件新標(biāo)桿，簡潔智能，零基礎(chǔ)入門，三次點(diǎn)擊即可獲得專家級測量結(jié)果

• 市場上最強(qiáng)大的偏振和熒光濾光片

• 可升級：三角度熒光濾光片和偏振片

• 具備Litesizer DLS101、501、701不同型號，滿足不同需求

行業(yè)應(yīng)用

制藥和生命科學(xué)

化學(xué)工業(yè)

食品飲料

重工業(yè)和石油

廢水和造紙

半導(dǎo)體和電池