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JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀
JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等?！?利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
操作簡便
只需安裝樣品，和觸摸屏幕。觸摸操作還可以進行分析結(jié)果與譜圖的顯示切換，操作快感如同使用平板電腦和智能手機一般（利用鍵盤、鼠標也能操作）。
安裝 ＆ 觸摸 操作簡單
GUI界面簡明易懂，操作直觀。
高靈敏度&高通量
JEOL 新開發(fā)的SDD( 硅漂移檢測器) 和新設計的光學系統(tǒng)及可以支持整個能量范圍的濾波器使高靈敏度的分析成為可能。安裝樣品室真空排氣單元( 選配項) 對輕元素可以提高檢測靈敏度
整個能量范圍內(nèi)的高靈敏度分析
使用濾波器（*多9種*） 和樣品室真空排氣單元能夠在整個能量范圍內(nèi)進行高靈敏度的分析。
* Cl、Cu、Mo、Sb 為選配項
微量元素檢測實例（10ppm以下）
提供解決方案
解決方案應用軟件能根據(jù)預先登錄的菜譜自動執(zhí)行所希望的測試分析。
只需從解決方案應用軟件的列表中選擇目標解決方案的圖標，就能輕松獲得分析結(jié)果，可為各種行業(yè)提供簡化的分析。
新開發(fā)的智能FP（基本參數(shù)法）法，不需要準備標樣，并且能自動進行殘留成分和厚度的校正， 獲得高度準確的定量結(jié)果。
（殘留成分和厚度校正功能只支持有機物樣品）
| 厚度 | 校正 | Cr | Zn | Cd | Pb | 自動平衡 |
| 0.5mm | 無 | 0.008 | 0.037 | 0.001 | 0.002 | 99.76 |
| 3.8mm | 0.012 | 0.109 | 0.004 | 0.006 | 99.64 | |
| 0.5mm | 有 | 0.011 | 0.137 | 0.015 | 0.010 | 99.54 |
| 3.8mm | 0.011 | 0.134 | 0.016 | 0.011 | 99.55 | |
| 標準值 | 0.010 | 0.125 | 0.014 | 0.010 | ||
（mass%）
暫無數(shù)據(jù)！
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