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AccuTOF? GC-Alpha 使用了兩項新的關鍵技術，在追求高性能的同時又保持易操作性。

   關鍵技術 1     新的高性能硬件                                                                                                                                    

JMS-T2000GC AccuTOF? GC-Alpha 是第六代 JEOL GC-TOFMS，具有改進的離子光學系統(tǒng)，可實現(xiàn)超高分辨率。

AccuTOF? GC-Alpha 是一款帶有雙級反射器的正交加速飛行時間質(zhì)譜儀(oaTOFMS)。它采用了理想的離子光學系統(tǒng)，實現(xiàn)了高離子透射率(即靈敏度)和超高分辨率。

AccuTOF? GC-Alpha 的基本性能

高性能的定性和定量分析，同時達到四個“高”規(guī)格和兩個“寬”范圍。

JMS-T2000GC AccuTOF? GC-Alpha 是一種高性能 GC-MS 系統(tǒng)，可同時實現(xiàn)高質(zhì)量分辨率、高質(zhì)量精度、高靈敏度、高速數(shù)據(jù)采集、寬動態(tài)范圍和寬質(zhì)量范圍。

高質(zhì)量分辨率和高質(zhì)量精度提供了****的定性分析結果；高速數(shù)據(jù)采集可用于先進的 GC-MS 測量，如全二維GC (GCxGC)，而寬動態(tài)范圍不僅適用于定量分析，也適用于復雜混合物的定性分析；寬質(zhì)量范圍在直接質(zhì)譜測量中特別能發(fā)揮威力，并且高靈敏度可使其獲得****的有關痕量成分信息。

AccuTOF? GC-Alpha 是真正的高性能GC-MS 系統(tǒng)，消除了化學分析的局限性。

1.   高靈敏度  

具有超高靈敏度的標準 EI 離子源能夠進行微量體積定量分析。

2.   儀器檢測極限：IDL=18.7 fg  

使用標準 EI 離子源對100 fg 八氟萘(OFN) 進行了八次連續(xù)測量。

根據(jù)分子離子提取離子色譜圖的峰面積和重現(xiàn)性，計算儀器檢測極限(IDL)。該系統(tǒng)的IDL 為18.7 fg。

3.   寬動態(tài)范圍：4 位數(shù)  

使用標準EI 離子源測量濃度范圍為0.1 至1000 pg/uL(4 位數(shù)) 的 OFN，并證實其高度線性。寬動態(tài)范圍不僅可用于定量分析，而且可用于不同濃度的復雜混合物的定性分析。

4.   高速數(shù)據(jù)采集：50 Hz  

對于 GCxGC 和 Fast GC 分析，色譜峰非常窄，因此需要支持高速數(shù)據(jù)采集的質(zhì)譜儀。AccuTOF? GC-Alpha 與這些先進的色譜技術非常匹配，因為它每秒可以采集多達50 個光譜的數(shù)據(jù)。

柴油的GCxGC/EI TICC

5.   寬質(zhì)量范圍：?m/z 6,000  

飛行時間質(zhì)譜儀的特點之一是能夠測量很寬的質(zhì)量范圍。普通 GC-MS 儀器的上限通常為 m/z 1000 左右，而 AccuTOF? GC-Alpha 可以檢測 m/z 6000 或更高。這樣可以使用直接探針質(zhì)譜法，如場解吸(FD)來測量低聚物等樣品。

聚苯乙烯5200的FD質(zhì)譜

6.   高質(zhì)量分辨率：30,000  

高質(zhì)量分辨率對于定性分析是必不可少的。質(zhì)量分辨率越高質(zhì)譜峰就會變得越窄，從而導致以下特征。

●  增加峰質(zhì)心的穩(wěn)定性 ＝ 提高質(zhì)量準確度

7.   高質(zhì)量精度：1 ppm^*1  

高質(zhì)量精度可以確定被觀察離子的元素組成。使用“漂移補償 - 多重”質(zhì)量校準功能，從硬脂酸甲酯中觀察到的 10 個離子的平均質(zhì)量精度（**值）為 0.05 mDa 或 0.45 ppm。

多種軟電離提供了新的定性分析功能  

AccuTOF? GC-Alpha 提供多種電離方法，軟電離 - 強大的定性分析工具！

1.   EI法  

GC-MS 中使用非常廣泛的電離技術，具有出色的靈敏度和可重復性，并得到各種檢索數(shù)據(jù)庫的支持。

對于使用 GC-MS 獲取更多信息的科學家來說，重要的是分子離子檢測。 EI 使用 70 eV 的高電離能，產(chǎn)生大量碎片離子，從中獲得結構信息。 然而，EI 通常無法顯示出強的分子離子信號。 如果僅依靠數(shù)據(jù)庫搜索，定性分析結果可能是不正確的。

因此，在 GC-MS 分析中，除了 EI 法，還采用各種軟電離技術來提高定性分析的準確度是至關重要的。 AccuTOF? GC-Alpha 上可選擇提供化學電離 ( CI )，光電離 ( PI )和場電離 ( FI )。 利用所有電離技術的精確質(zhì)量測量功能，可以可靠地測定分析物的元素組成。

2.   FI 和 FD 法  - 測定分子量的理想軟電離技術  

FI 和 FD 是極軟的電離技術，為分析物提供比 EI 甚至 CI 更低的內(nèi)部能量，從而產(chǎn)生清晰的分子離子。 因此，F(xiàn)I 和 FD 是分子量測定的理想選擇。

在 FI 和 FD 中，電離是通過高電場的作用從中性物質(zhì)中去除電子而發(fā)生的。

◎ FI（場電離）

?  通過 GC 或標準樣品進樣口將樣品導入離子源。  

?  與 CI 不同，F(xiàn)I 不需要試劑氣體；無需選擇適合分析物的試劑氣體。

◎ FD（場解吸）

?  將樣品涂到發(fā)射體上并直接導入系統(tǒng)。

?  適用于分析熱不穩(wěn)定化合物。

?  適用于可溶于非極性溶劑的樣品。  

?  能測試可以分散在溶劑中的粉末樣品。  

?  能測試低～中極性的金屬絡合物。

?  能分析一般GC-MS 無法測試的樣品，如聚合物、高分子材料等。

◎  FI 和 FD ? EI/FI/FD 組合離子源（選配件）

◎  PI（光電離）? EI/PI 組合離子源（選配件）

PI 是一種電離方法，它使用來自真空紫外燈 (VUV) 的光子進行電離。AccuTOF? GC-Alpha 具有可選的組合離子源，可同時提供EI（硬電離）和PI（軟電離）。通過簡單地開 / 關 EI 燈絲和 PI 燈，就可以在 EI 和 PI 之間切換。

特征是：? 無需更換離子源    ? 無需打破真空    ? 無需反應氣體

PI 對于分析復雜混合物中的芳族化合物特別有用。因為這些化合物強烈吸收紫外線，所以在 PI 時產(chǎn)生高強度峰。

  關鍵技術 2     新一代分析軟件，操作簡單、快捷                                                

我們創(chuàng)建了一種新的工作流程，通過 GC-MS 鑒定未知化合物。 在該工作流程中，通過綜合硬電離(EI)獲得的數(shù)據(jù)和軟電離 ( FI，PI，CI ) 獲得的數(shù)據(jù)來進行數(shù)據(jù)分析，以鑒定樣品中存在的分析物。

自 2018 年推出以來，用于 AccuTOF? GC 系列的 msFineAnalysis 軟件作為一種全新概念的軟件解決方案已廣受好評，用于未知化合物的自動定性分析。該軟件充分利用了 AccuTOF? GC-Alpha 獲得的高質(zhì)量數(shù)據(jù)，為未知化合物的定性分析提供了一種新方法。

1.    msFineAnalysis 升級到版本 3  

msFineAnalysis 版本 3 簡化了軟件操作，并增加了一個新功能，可以直接比較兩個相似的樣本并進行差異分析。msFineAnalysis 新的增強版本使操作者可以輕松地對未知化合物以及未在 EI 質(zhì)譜庫中注冊的化合物進行定性分析。

msFineAnalysis 的功能：

?  結合EI / SI 數(shù)據(jù)進行自動定性分析

?  色譜峰反卷積

?  組分析法提取具有常見亞結構的化合物

?  差異分析可直接比較 2 個樣品

?  可單獨支持EI 數(shù)據(jù)分析

msFineAnalysis 提供快速有效的數(shù)據(jù)分析，使用戶可以花費更少的時間分析數(shù)據(jù)，而將更多的時間用于研究和創(chuàng)新！

2.    帶有Direct MS (直接質(zhì)譜分析)的 AccuTOF? GC-Alpha  

直接 MS 模式可用于分析不適用于 GC 的高沸點和高質(zhì)量數(shù)化合物。

TOFMS 固有的寬質(zhì)量范圍與直接 MS 模式非常匹配。

用 GC 測量的化合物的分子量通常低于 500 Da ，因此使用 GC-MS 測量分子量超過 1000 Da 的化合物并不常見。但在直接 MS 模式下（不使用GC），樣品被直接引入離子源，因此可以測量高沸點、高分子量和非揮發(fā)性化合物。 AccuTOF? GC-Alpha 的質(zhì)量范圍在 m/z 6,000 以上。  由于可以在比常規(guī)GC-MS更大的質(zhì)量范圍內(nèi)檢測化合物，所以該系統(tǒng)是*適合在直接MS模式下進行測量的裝置。

◎  三種直接 MS 探針可供選擇

◎  用 FD 和 Kendrick 質(zhì)量虧損（KMD）分析聚合物

FD 是一種電離方法，其中施加在發(fā)射器上的分析物分子被高電場解吸和電離。在測量過程中，流過發(fā)射器的電流逐漸增加，以加熱分析物幫助解吸和電離。由于電離的**發(fā)射極電流取決于分析物，因此組分可以在不同時間解吸?？梢苑蛛x混合物中的成分，并且可以提取特定種類化合物的質(zhì)譜。此外，即使化合物在解吸和電離過程中未及時分離，通過創(chuàng)建 KMD 圖仍可以清晰地分離目標組分。