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荷蘭SunLab Corescan、Sherescan測(cè)試系統(tǒng)

針對(duì)網(wǎng)印，燒結(jié)制程優(yōu)化的**工具

針對(duì)擴(kuò)散發(fā)射極方塊電阻生產(chǎn)高效率電池片，提高良率**工具

1、通過CoreScan掃描Rs，可以得到整個(gè)電池片的串聯(lián)電阻分布圖。從而判斷影響此因素的原因，如：燒結(jié)溫度過高過低、磷硅玻璃是否去除干凈，發(fā)射層是否平整均勻，電極是否有虛印、斷線等等。

2、 通過ShuntScan掃描Rsh，可以得到整個(gè)電池片的并聯(lián)電阻分布圖。判斷影響此項(xiàng)參數(shù)的原因，如：銀鋁漿對(duì)正表面的污染、刻蝕不足、過燒以及SiC層結(jié)是否有階梯等問題。

3、 通過VocScan掃描Voc，可以得到開壓分布圖。判斷影響此項(xiàng)參數(shù)的原因，如：BSF的均勻性、原材料的均勻性等。

4、 通過LBIC Scan，得到電流分布圖?？梢耘袛啵涸牧先毕?，也可以說明鈍化或是鍍膜效果。