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        反射式膜厚測量儀
        反射式膜厚測量儀

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        面議

        型號

        品牌

        產(chǎn)地

        日本

        樣本

        暫無
        上海瞬渺光電技術(shù)有限公司

        會員

        |

        第2年

        |

        生產(chǎn)商

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        產(chǎn)品特點(diǎn):

        ? 非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。

        ? 高精度、高再現(xiàn)性測量紫外到近紅外波長反射率光譜,分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率,k消光系數(shù))。

        ? 寬闊的波長測量范圍。(190nm-1100nm)

        ? 薄膜到厚膜的膜厚測量范圍。1nm~250μm

        ? 對應(yīng)顯微鏡下的微距測量口徑。

        產(chǎn)品規(guī)格:

        標(biāo)準(zhǔn)型

        厚膜專用型

        膜存測量范圍

        1nm~40μm

        0.8μm~250μm

        波長測量范圍

        190~1100nm

        750~850nm

        感光元件

        PDA 512ch(電子制冷)

        CCD 512ch(電子制冷)

        PDA 512ch(電子制冷)

        光源規(guī)格

        D2(紫外線)、12(可見光)、D2+12(紫外-可見光)

        12(可見光)

        電源規(guī)格

        AC 100V±10V 750VA(自動樣品臺規(guī)格)

        尺寸

        4810(H)×770(D)×714(W)mm(自動樣品臺規(guī)格之主體部分)

        重量

        約96kg(自動樣品臺規(guī)格之主體部分)

        應(yīng)用范圍:

        FPD

        -LCD、TFT、OLED(有機(jī)EL)

        半導(dǎo)體、復(fù)合半導(dǎo)體

        -矽半導(dǎo)體、半導(dǎo)體鐳射、強(qiáng)誘電、介電常數(shù)材料

        資料儲存

        -DVD、磁頭薄膜、磁性材料

        光學(xué)材料

        -濾光片、抗反射膜

        平面顯示器

        -液晶顯示器、膜膜電晶體、OLED

        薄膜

        -AR膜

        其他

        -建筑用材料

        測量范圍:

        玻璃上的二氧化鈦膜厚、膜質(zhì)分析

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        產(chǎn)品質(zhì)量

        10分

        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性價比

        10分
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