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國產(chǎn)臺(tái)式場發(fā)射掃描電子顯微鏡品牌
安徽澤攸產(chǎn)地
安徽樣本
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場發(fā)射掃描電鏡
產(chǎn)品介紹:
ZEM Ultra 臺(tái)式掃描電鏡采用肖特基場發(fā)射電子源,三級(jí)獨(dú)立真空設(shè)計(jì),優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結(jié)構(gòu)表征需求。
標(biāo)配大束流及大樣品倉,支持原位功能樣品臺(tái)及EDS/EBSD拓展。
暫無數(shù)據(jù)!
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近日,蘇州科技大學(xué)作為第一單位,在《Inorg. Chem.》上發(fā)表了題為《Exploration of CeO2?CuO Quantum Dots in Situ Grown on Gra
近日,澳大利亞昆士蘭理工大學(xué)作為第一單位,在《NanoLetters》上發(fā)表了題為《Mechanical, Electrical, and Crystallographic Property Dyna