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            晶圓半導(dǎo)體表面缺陷檢測(cè)設(shè)備--魔鏡系統(tǒng)
            晶圓半導(dǎo)體表面缺陷檢測(cè)設(shè)備--魔鏡系統(tǒng)

            參考價(jià)格

            面議

            型號(hào)

            晶圓表面缺陷檢測(cè)

            品牌

            產(chǎn)地

            浙江

            樣本

            暫無(wú)
            芯茂(嘉興)半導(dǎo)體科技有限公司

            高級(jí)會(huì)員

            |

            第1年

            |

            生產(chǎn)商

            工商已核實(shí)

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            特長(zhǎng)
            1.所有的表面狀態(tài)都是即時(shí)的。
            2.我們的光學(xué)系統(tǒng)對(duì)應(yīng)是1級(jí)的。
            3.光學(xué)系統(tǒng)是免維護(hù)的。
            4.根據(jù)檢查內(nèi)容,檢測(cè)靈敏度/檢測(cè)放大率可以進(jìn)行變更
            5.根據(jù)每個(gè)樣品和檢查位置定制**光學(xué)系統(tǒng)。


            產(chǎn)品詳情:

            設(shè)備概要
            1.利用魔鏡原理,觀察那些目視無(wú)法確認(rèn)的晶圓鏡面樣品表面上的micro缺陷。
            2.凹面缺陷則較為明亮、凸面缺陷則較為暗淡。通過(guò)明暗測(cè)定缺陷種類、缺陷位置、以及缺陷尺寸。
            3.可檢測(cè)晶圓表面的Dimples、凹凸、研削痕、研磨痕、滑移線、Edge缺陷、翹曲、變形等異常。

            設(shè)備用途
            . 切割,研削,研磨,拋光,外延及退火后硅片表面檢測(cè)(量產(chǎn)用)
            . SiC,GaN等化合物晶圓表面缺陷檢測(cè)
            . 藍(lán)寶石,水晶,玻璃晶圓的表面以及內(nèi)部缺陷檢測(cè)
            . 各工程的晶圓抽樣檢測(cè)用(線下用)

            設(shè)備特長(zhǎng)
            1.所有表面狀態(tài)均是瞬時(shí)檢測(cè)
            2.光學(xué)系統(tǒng)對(duì)應(yīng)1級(jí)光學(xué)系統(tǒng)
            3.光學(xué)系統(tǒng)免維護(hù)
            4.根據(jù)檢查內(nèi)容、檢測(cè)靈敏度、檢測(cè)放大率可進(jìn)行變更
            5.根據(jù)每個(gè)樣品和檢查位置定制**光學(xué)系統(tǒng)。

            自動(dòng)畫像解析功能
            可基于檢測(cè)前所設(shè)定的缺陷判斷臨界值,對(duì)自動(dòng)取得的圖像進(jìn)行畫像解析,缺陷種類判別,缺陷部位的可視化,位置坐標(biāo)算出、缺陷尺寸表示等工作。

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            產(chǎn)品質(zhì)量

            10分

            售后服務(wù)

            10分

            易用性

            10分

            性價(jià)比

            10分
            評(píng)論內(nèi)容
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