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產(chǎn)品簡介
旗艦款SDD傳感器Ultim Max TLE,搭載于透射電子顯微鏡(TEM),經(jīng)過設(shè)計優(yōu)化,提高了小束斑下的計數(shù)率,可表征原子尺度的元素信息。
這一性能是通過優(yōu)化的晶體形狀,100mm2大面積晶體,無窗結(jié)構(gòu),優(yōu)化的機(jī)械設(shè)計和Extreme級電子元器件來實現(xiàn)的。
0.5 - 1.1srad的立體角
對低能量x射線的靈敏度可提高8倍
可在400,000cps的計數(shù)率下進(jìn)行定量分析
在原位實驗中,在高至1000°C的溫度下采集譜圖
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