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Ultim Max TEM，搭載于透射電子顯微鏡(TEM)主要用于納米尺度成分分析和元素面分布分析。

全新設(shè)計(jì)80mm²的傳感器，進(jìn)一步接近樣品并提供更多的x射線計(jì)數(shù)。UltimMax TEM結(jié)合了無窗設(shè)計(jì)和低噪音電子元器件 , 為 200kV下EDS分析提供高質(zhì)量數(shù)據(jù)。

·       0.2 - 0.6 srad的立體角

·       對低能量x射線的靈敏度可提高8倍

·       可在400,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析

在原位實(shí)驗(yàn)中，可在1000°C的溫度下采集譜圖

旗艦款SDD傳感器Ultim Max TLE，搭載于透射電子顯微鏡(TEM)，經(jīng)過設(shè)計(jì)優(yōu)化，提高了小束斑下的計(jì)數(shù)率，可表征原子尺度的元素信息。

這一性能是通過優(yōu)化的晶體形狀，100mm2大面積晶體，無窗結(jié)構(gòu)，優(yōu)化的機(jī)械設(shè)計(jì)和Extreme級電子元器件來實(shí)現(xiàn)的。

• 0.5 - 1.1srad的立體角

• 對低能量x射線的靈敏度可提高8倍

• 可在400,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析

在原位實(shí)驗(yàn)中，在高至1000°C的溫度下采集譜圖

Xplore TEM是專門為120kV和200kV 透射電鏡（TEM）的常規(guī)應(yīng)用而設(shè)計(jì)的元素分析系統(tǒng)。使用新的 80mm² 傳感器和聚合物薄窗口及低噪音電子元器件 , 為用戶提供快速和準(zhǔn)確的元素表征。

• 0.1 - 0.4 srad的立體角

• 從Be到Cf的元素檢測

• 可在200,000cps的計(jì)數(shù)率下進(jìn)行定量分析

SATW窗口為廣泛的應(yīng)用提供了極大的便利性