認(rèn)證信息
高級(jí)會(huì)員 第 4 年
名 稱：牛津儀器科技（上海）有限公司認(rèn) 證：工商信息已核實(shí)
訪問(wèn)量：176976
手機(jī)網(wǎng)站
掃一掃，手機(jī)訪問(wèn)更輕松
產(chǎn)品分類
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
專為TKD分析的樣品座，TKD即透射菊池花樣演示分析（Transmission Kikuchi Diffraction）技術(shù)，是**用于檢測(cè)僅十幾納米尺度的EBSD分析方法，空間分辨率比傳統(tǒng)技術(shù)提高一個(gè)數(shù)量級(jí)。該樣品座方便用戶將超輕薄樣品放 置于SEM中并符合光學(xué)原理的衍射花樣，保證獲得更加準(zhǔn)確的信號(hào)量。
TKD分析仍使用原有EBSD軟硬件，只是樣品更薄且經(jīng)過(guò)電解拋光穿孔。由于衍射信號(hào)來(lái)自樣品下側(cè)幾個(gè)或幾十個(gè)納米厚度的區(qū)域，該技術(shù)也被稱為透射 EBSD（T-EBSD）。樣品薄區(qū)的衍射范圍較小，樣品與探測(cè)器及極靴的幾何位置是否理想是獲得有效信號(hào)的必要條件之一。因此設(shè)計(jì)專門的樣品座做TKD 分析就顯得尤關(guān)重要。
TKD樣品座是專為超薄樣品設(shè)計(jì)，易于固定且符合光學(xué)原理。置于SEM中，即可使用AZtec EBSD系統(tǒng)輕松方便的實(shí)現(xiàn)高分辨的EBSD分析。
- 推薦產(chǎn)品
- 供應(yīng)產(chǎn)品
- 產(chǎn)品分類
- 牛津儀器OmniGIS II氣體注入系統(tǒng)
- 聚焦離子束掃描電鏡用納米操縱手
- 臺(tái)式磁共振分析儀
- 門控探測(cè)器Andor iStar
- 牛津儀器相機(jī)Andor Zyla CMOS
- 牛津儀器TeslatronPT無(wú)液氦磁體低溫系統(tǒng)
- 牛津儀器相機(jī)Andor iKon-XL CCD
- 牛津儀器高速共聚焦成像平臺(tái)Andor Dragonfly
- 無(wú)液氦稀釋制冷機(jī)系統(tǒng)
- 牛津儀器Azteclive能譜實(shí)時(shí)元素成像系統(tǒng)
- 光學(xué)低溫恒溫器
- 牛津儀器無(wú)液氦光譜學(xué)恒溫器
- 牛津儀器C-Swift EBSD探測(cè)器
- 牛津儀器PlasmaPro100 Estrelas刻蝕設(shè)備
- 牛津儀器Microstat顯微光學(xué)恒溫器
- 牛津儀器PECVD等離子體處理系統(tǒng)