參考價(jià)格
面議型號(hào)
Zetium品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
荷蘭樣本
暫無(wú)誤差率:
/分辨率:
/重現(xiàn)性:
/儀器原理:
動(dòng)態(tài)光散射分散方式:
/測(cè)量時(shí)間:
/測(cè)量范圍:
/看了X射線(xiàn)熒光光譜儀Zetium的用戶(hù)又看了
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X 射線(xiàn)熒光光譜 (XRF) 能夠?qū)Χ喾N材料進(jìn)行元素分析,包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專(zhuān)為滿(mǎn)足要求嚴(yán)苛的流程控制和研發(fā)應(yīng)用需求而設(shè)計(jì),其高品質(zhì)的設(shè)計(jì)和功能,可對(duì)從鈹?shù)斤训榷喾N元素進(jìn)行精度范圍從百萬(wàn)分之一以下到百分之一的分析。
Zetium 包含了 SumXcore 技術(shù),它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 這種功能組合使 Zetium 在多種環(huán)境下?lián)碛懈叻治瞿芰?、速度和任?wù)靈活性。
Zetium 配備了我們**版本的 SuperQ 軟件(包括 Virtual Analyst),可幫助非專(zhuān)家用戶(hù)輕松地設(shè)置應(yīng)用程序。 針對(duì)特定分析提供了廣泛的附加軟件模塊,例如無(wú)標(biāo)分析、地質(zhì)痕量元素、潤(rùn)滑油中的基體校正以及薄膜分析。
針對(duì)特定行業(yè)提供了 Zetium XRF 光譜儀行業(yè)專(zhuān)用版:水泥、礦物、金屬、石化產(chǎn)品以及聚合物和塑料。另外提供可滿(mǎn)足各行業(yè)嚴(yán)苛要求的高配置版本:Zetium**版。 Zetium 平臺(tái)的模塊化設(shè)計(jì)允許通過(guò)各種軟件包來(lái)實(shí)現(xiàn)以任務(wù)為導(dǎo)向的性能增強(qiáng)。 馬爾文帕納科提供了一系列集成解決方案;從連接樣品制備裝置的簡(jiǎn)單接口,到將多個(gè)分析儀器集成到單一容器實(shí)驗(yàn)室中的全自動(dòng)項(xiàng)目。
連續(xù)開(kāi)發(fā)、不斷改進(jìn)的客戶(hù)體驗(yàn)
將 SumXcore 技術(shù)(WDXRF與EDXRF 的集成)所帶來(lái)的符合科學(xué)原理的優(yōu)勢(shì)驅(qū)動(dòng)型創(chuàng)新融合到 Zetium 平臺(tái)中,帶來(lái)更高靈活性、高性能和多功能性。
基本情報(bào)
我們的 SuperQ 軟件帶來(lái)了新的技術(shù)組合和分析功能。 以 Virtual Analyst 為例,它優(yōu)化了用戶(hù)在設(shè)置和操作系統(tǒng)方面的體驗(yàn)。
無(wú)論在何處,都能獲得信息透明且可靠的支持
從服務(wù)到專(zhuān)業(yè)知識(shí),從培訓(xùn)到實(shí)驗(yàn)室分析,可為用戶(hù)提供全方位支持。 通過(guò)遍布全球的資深工程師網(wǎng)絡(luò),馬爾文帕納科隨時(shí)準(zhǔn)備好幫助您滿(mǎn)足分析需求。
60 年的經(jīng)驗(yàn)和傳承
Zetium 是 WDXRF 光譜儀(包括 Axios、MagiX 和 PW2400)中的新一代產(chǎn)品。 傳承下來(lái)的成熟技術(shù)經(jīng)過(guò)優(yōu)化和發(fā)展,為 Zetium 平臺(tái)打下了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。
從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級(jí)可增強(qiáng)靈敏度
一系列 X 射線(xiàn)光管陽(yáng)極材料(銠、鉻、鉬和金)可確保發(fā)揮特定應(yīng)用性能
用于增強(qiáng)靈敏度和加大過(guò)渡金屬分析動(dòng)態(tài)范圍的復(fù)合探測(cè)器
用于擴(kuò)大的重元素動(dòng)態(tài)范圍(線(xiàn)性高達(dá) 3.5 Mcps)的 HiPer 閃爍探測(cè)器特別適合對(duì)鋼中的鈮和鉬進(jìn)行高精度分析
Virtual Analyst 提供簡(jiǎn)潔、直觀的軟件
整套應(yīng)用程序設(shè)置模塊和軟件解決方案
使用無(wú)標(biāo) XRF 分析,對(duì)未知材料進(jìn)行分析,或者在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的情況下進(jìn)行分析
多元素微小區(qū)域分析
可編程的面罩,適合的樣品尺寸為 6 mm 至 37 mm
SumXcore 技術(shù) - 利用 ED core(能譜核)將測(cè)量時(shí)間縮短多達(dá) 50%
從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級(jí)可加快分析速度
Hi-Per 通道可實(shí)現(xiàn)對(duì)輕元素的同步測(cè)量
連續(xù)和直接進(jìn)樣可大大縮短儀器的進(jìn)樣時(shí)間
高容量進(jìn)樣器臺(tái)(*多 209 位)可滿(mǎn)足高處理量應(yīng)用需求
進(jìn)樣器條形碼閱讀器選項(xiàng)可實(shí)現(xiàn)快速、無(wú)故障的樣品裝載和數(shù)據(jù)錄入
除塵設(shè)備可盡量減少污染,并能夠大大提升儀器的正常運(yùn)行時(shí)間
用于提高 X 射線(xiàn)管耐用性和耐腐蝕性的 CHI-BLUE X 射線(xiàn)管窗涂層
樣品類(lèi)型識(shí)別(固體和液體)
條形碼閱讀器可實(shí)現(xiàn)無(wú)差錯(cuò)的樣品數(shù)據(jù)錄入
節(jié)省空間的緊湊型設(shè)計(jì)
小體積空氣鎖設(shè)計(jì) - 用于將樣品快速循環(huán)到真空中,或?qū)σ后w分析實(shí)現(xiàn)低氦氣消耗
便于檢修的服務(wù)模塊意味著更高的儀器可維修性和更短的停機(jī)時(shí)間
專(zhuān)用制冷機(jī)可從實(shí)驗(yàn)室?guī)ё邿崃?- 避免實(shí)驗(yàn)室空調(diào)基礎(chǔ)設(shè)施負(fù)荷過(guò)重
可節(jié)省成本的成套解決方案
馬爾文儀器 連續(xù)開(kāi)發(fā)、不斷改進(jìn)的客戶(hù)體驗(yàn)
隨著動(dòng)力電池和新能源汽車(chē)的需求爆發(fā),鋰電正極材料也正在快速迭代,其中三元材料逐漸成為動(dòng)力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,化學(xué)分析過(guò)程相對(duì)復(fù)雜、分析時(shí)間長(zhǎng)、梯度稀釋誤
2021-08-06
在科研與產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新的過(guò)程中,作為核心生產(chǎn)研發(fā)設(shè)備的精密儀器,其先進(jìn)性及性能穩(wěn)定性
時(shí)間:2025年4月18日-20日 展館:大連國(guó)際會(huì)議中心 &n
展期:2025年3月10日-12日展館:上海世博展覽館 H1 號(hào)館地址:上海市?浦東博成路850號(hào)展位號(hào):H1-A4262025年3月10日至12日,馬爾文帕納科(Malvern Panalytica
本文摘要使用Zetasizer納米粒度電位儀進(jìn)行預(yù)制備樣品電位測(cè)量時(shí),樣品中產(chǎn)生的氣泡會(huì)顯著影響測(cè)量結(jié)果。本文將通過(guò)實(shí)際案例展示如何通過(guò)超聲脫氣與馬爾文帕納科專(zhuān)利的擴(kuò)散屏障法[2]結(jié)合使用,來(lái)保障預(yù)制
本文摘要納米氣泡的粒度表征,受限于其顆粒濃度低、粒徑分布寬等特點(diǎn),若使用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)技術(shù)進(jìn)行測(cè)試,信號(hào)弱,數(shù)據(jù)質(zhì)量較差。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤(NTA)技術(shù)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)、可視化的納米氣泡顆粒表
本文摘要磨料用SiO2 漿料的顆粒粒度對(duì)硅晶片的微觀形貌有直接影響,進(jìn)而會(huì)影響到后續(xù)工序電介質(zhì)膜的均勻性;此外,漿料的穩(wěn)定性也會(huì)影響晶片拋光過(guò)程,所以磨料的顆粒表征非常重要,本文介紹了利用動(dòng)態(tài)光散射技