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MPS-C-3X0磁體探針臺系統是世界上**個探針臺，能夠在被測試的器件上提供三維磁場控制。
真正獨特的**設計使自旋電子器件的做晶圓級測試、納米電子和許多其他材料和器件在所需磁場中準確的測試和測量。自旋流和自旋矩振蕩器測試，磁模擬和識別復雜的多層結構的各向異性只是應用我們的MPS系統的幾個案例。
MPS系列磁體探針臺特點：
MPS系列磁體探針臺是市場上**能提供在應用磁場中對任意兩或三維定位的探針臺，是自旋電子器件的特性和自旋電子學研究的一個*終的探針臺解決方案。
MPS系列磁探針臺是**在市場上提供的晶圓級別的矢量磁場探測的探針臺，特適合于在生產環(huán)境中自旋和磁電子器件測試。
MPS系列磁體探針臺完全可定制的，基于開源的LabVIEW的控制軟件，很容易與*常見的測試和測量設備集成。
高分辨率微定位器40、80、100和200tpi下探針的微米級定位螺釘。
數據收集和/或分析與廣泛的輸出格式和選項可用。
系統提供了三維霍爾探頭，以提供****的穩(wěn)定性和精度所施加的磁場通過閉環(huán)控制。
可選項：
升級為150mm或200mm晶圓。
擴展磁場均勻性/穩(wěn)定性。
高分辨率顯微鏡。
用于探測期間的域成像偏振顯微鏡。
升級射頻探針
擴展溫度范圍探測
相機的廣泛選擇
晶片卡盤廣泛的選擇
對micropositioners廣泛的選擇，探針和探針尖端武器
超真空泵
受控環(huán)境測量
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